[发明专利]一种薄膜表面微变形的观测方法

说明书

本发明涉及一种薄膜表面微变形的观测方法，在不透光的环境中，将点光源、圆形的凸透镜、平面形的薄膜、视窗依次间距排列，调整四者的相对位置使得点光源发射的光线经过凸透镜折射后穿过薄膜在视窗上形成圆形的光圈，在视窗背离薄膜的一侧观察有无暗影出现，如无，则薄膜表面无微变形；如有，则薄膜表面有微变形，通过测量和计算得到微变形的实际尺寸；点光源位于凸透镜的主光轴上，且点光源到凸透镜的距离小于凸透镜的一倍焦距；薄膜和视窗与凸透镜的主光轴垂直且相交；视窗为面向薄膜的一侧具有透光特性且背离薄膜的一侧具有成像特性的板。本发明方法操作简单高效，可避免人为原因导致微变形漏检，直观地进行微变形大小的测量。

技术领域

本发明属于薄膜外观观察领域，具体为一种薄膜表面微变形的观测方法。

背景技术

塑料薄膜是厚度小于0.25mm的柔性片材，由于薄膜的种类较多，常用的有聚丙烯薄膜、聚乙烯薄膜、聚氯乙烯薄膜和聚酯薄膜等，且薄膜的成型加工方式也很多，如挤出法、吹塑法、压延法、流延法和拉伸法等。这就决定了薄膜能广泛应用于光电行业、电子电器行业、玻璃钢行业、建材行业、印刷行业、医药卫生等多个领域。薄膜的外观控制是薄膜出货检验中的必检项，其中薄膜的表面微变形又是薄膜的表观控制中尤为重要的一个组成部分，特别是在光电、电子电器等高端领域。

薄膜材质柔软在加工过程中很容易产生表面微变形，常见的可能原因有：加工过程中受力不均匀、生产过程中设备表面损伤导致咯伤转移、厚度累计偏差大、静电设备设置不当、车间净化等级不达标、低分子物的脱落等。而这种表面微变形不易察觉，且极大程度的影响了产品的后续加工使用，特别是在下游涂布过程中膜的表面微变形直接导致涂布不均匀，该处的瑕疵被放大，最终影响产品的品质。因此透明膜表面微变形的观测对于薄膜的生产制造以及外观表征显得十分必要。

薄膜表观微变形的观测需要重点关注亮度和角度，而目前主要通过检验人员的经验，寻找合适的光源和观测角度，该观测方法依赖于长期的工作经验，且由于微变形轮廓不明显，只能大概的看出变形的大小，不能量化微变形的尺寸。

因此，研究一种薄膜表面微变形的观测方法以解决上述问题具有十分重要的意义。

发明内容

本发明为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种薄膜表面微变形的观测方法。

为了达到上述目的，本发明的技术方案如下：

一种薄膜表面微变形的观测方法，在不透光的环境中，将点光源、圆形的凸透镜、平面形的薄膜、视窗依次间距排列，调整四者的相对位置使得点光源发射的光线经过凸透镜折射后穿过薄膜在视窗上形成圆形的光圈，在视窗背离薄膜的一侧观察有无暗影出现，如无，则薄膜表面无微变形；如有，则薄膜表面有微变形，通过测量和计算得到微变形的实际尺寸S₁；

点光源位于凸透镜的主光轴上，且点光源到凸透镜的距离小于凸透镜的一倍焦距；

薄膜和视窗与凸透镜的主光轴垂直且相交；

薄膜的厚度为300微米以下，薄膜越薄效果越明显；

视窗为面向薄膜的一侧具有透光特性且背离薄膜的一侧具有成像特性的板；

S₁的计算公式如下：

；