[发明专利]一种曝光控制方法,终端及存储介质有效
| 申请号: | 202210708822.X | 申请日: | 2022-06-22 |
| 公开(公告)号: | CN114785963B | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
| 发明(设计)人: | 田照银;明幼林;莫苏苏;吴昊 | 申请(专利权)人: | 武汉市聚芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/235 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 周艳;胡春光 |
| 地址: | 430270 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 曝光 控制 方法 终端 存储 介质 | ||
本申请实施例公开了一种曝光控制方法,终端及存储介质,终端基于当前曝光时间对拍摄目标进行拍摄,获取拍摄目标对应的至少一个相位图;基于至少一个相位图,确定存在过曝时,对当前曝光时间进行降低处理,得到下一帧的曝光时间;基于至少一个相位图,确定未过曝时,基于最优幅值调整曝光时间,确定下一帧的曝光时间;基于下一帧的曝光时间对拍摄目标进行拍摄。能够有效提高曝光控制的效率,提升拍摄效果。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种曝光控制方法,终端及存储介质。
背景技术
飞行时间法(Time of flight,TOF)成像系统中搭载的TOF芯片可以通过自动曝光优化成像;针对不同的TOF芯片,可以根据不同的控制自动曝光的方法实现TOF自动曝光,例如,可以通过对比拍摄的当前帧图像的幅值与最优幅值之间的差距来计算曝光时间,也可以通过计算过曝像素点和欠曝像素点的比例来计算曝光时间,还可以根据灰度图的亮度或者幅度图计算曝光增益,从而确定曝光时间;然而,上述自动曝光方法普遍需要迭代计算,流程较为繁琐,曝光时间收敛较慢;可见,现有的曝光控制方法普遍存在效率较低的问题,从而影响了拍摄效果。
发明内容
本申请实施例提供了一种曝光控制方法,终端及存储介质,能够有效提高曝光控制的效率,提升拍摄效果。
本申请实施例的技术方案是这样实现的:
第一方面,本申请实施例提供了一种曝光控制方法,所述方法包括:
基于当前曝光时间对拍摄目标进行拍摄,获取所述拍摄目标对应的至少一个相位图;
基于至少一个相位图,确定存在过曝时,对所述当前曝光时间进行降低处理,得到下一帧的曝光时间;
基于至少一个相位图,确定未过曝时,基于最优幅值调整曝光时间,确定下一帧的曝光时间;
基于所述下一帧的曝光时间对所述拍摄目标进行拍摄。
第二方面,本申请实施例提供了一种终端,所述终端包括拍摄单元和确定单元,
所述拍摄单元,用于基于当前曝光时间对拍摄目标进行拍摄,获取所述拍摄目标对应的至少一个相位图;
所述确定单元,用于基于至少一个相位图,确定存在过曝时,对所述当前曝光时间进行降低处理,得到下一帧的曝光时间;以及基于至少一个相位图,确定未过曝时,基于最优幅值调整曝光时间,确定下一帧的曝光时间;
所述拍摄单元,还用于基于所述下一帧的曝光时间对所述拍摄目标进行拍摄。
第三方面,本申请实施例提供了一种终端,所述终端还包括处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器,当所述指令被所述处理器执行时,实现如上所述的曝光控制方法。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,应用于终端中,所述程序被处理器执行时,实现如上所述的曝光控制方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉市聚芯微电子有限责任公司,未经武汉市聚芯微电子有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210708822.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





