[发明专利]一种曝光控制方法,终端及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210708822.X 申请日: 2022-06-22
公开(公告)号: CN114785963B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 田照银;明幼林;莫苏苏;吴昊 申请(专利权)人: 武汉市聚芯微电子有限责任公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N5/235
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 周艳;胡春光
地址: 430270 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 曝光 控制 方法 终端 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种曝光控制方法,其特征在于,所述方法包括:

基于当前曝光时间对拍摄目标进行拍摄,获取所述拍摄目标对应的至少一个相位图;

基于至少一个相位图,确定存在过曝时,对所述当前曝光时间进行降低处理,得到下一帧的曝光时间;

基于至少一个相位图,确定未过曝时,基于所述至少一个相位图确定幅度图;在所述幅度图中确定第二目标区域,并计算所述第二目标区域的幅度均值;其中,所述第二目标区域表征所述幅度图中的感兴趣区域;计算最优幅值和所述第二目标区域的幅度均值的比值,根据所述比值确定所述下一帧的曝光时间;其中,所述最优幅值根据终端相应的硬件条件确定;

基于所述下一帧的曝光时间对所述拍摄目标进行拍摄。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

基于所述至少一个相位图确定相位均值图;

在所述相位均值图中确定第一目标区域;其中,所述第一目标区域表征所述相位均值图的至少一个第一区域中,像素点抖动最大的区域;

确定所述第一目标区域中,相位均值偏差大于预设相位均值偏差阈值的像素点信息;其中,所述像素点信息包括像素点比例和/或像素点数量;

若所述像素点信息大于预设阈值,则确定存在过曝;

若所述像素点信息小于或者等于预设阈值,则确定未过曝。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述比值大于1时,所述下一帧的曝光时间大于所述当前曝光时间,当所述比值小于1时,所述下一帧的曝光小于所述当前曝光时间,当所述比值等于1时,所述下一帧的曝光时间等于所述当前曝光时间。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个相位图确定相位均值图,包括:

基于所述至少一个相位图中,每个相位图的像素点对应的相位信息,计算相位均值,以获得所述相位均值图。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个相位图确定幅度图,包括:

基于所述至少一个相位图中,每个相位图的像素点对应的幅度信息,计算幅度数据,以获得所述幅度图。

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述相位均值图中确定第一目标区域,包括:

对所述相位均值图进行区域划分,获得所述至少一个第一区域,并计算所述至少一个第一区域各自对应的第一目标信息;其中,所述第一目标信息为相位标准差信息、熵值信息以及相位均值信息中的至少一种;

将所述至少一个第一区域各自对应的第一目标信息中,最大的第一目标信息对应的第一区域确定为所述第一目标区域。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述幅度图中确定第二目标区域,包括:

对所述幅度图进行区域划分,获得至少一个第二区域,并计算所述至少一个第二区域各自对应的幅度均值信息或平滑度信息;

将所述至少一个第二区域各自对应的幅度均值信息或平滑度信息中,最大的幅度均值信息或平滑度信息对应的第二区域确定为所述第二目标区域;或者,

对所述幅度图进行边缘检测处理,获得至少一个第三区域,并计算所述至少一个第三区域各自对应的像素点数目信息;

将所述至少一个第三区域各自对应的像素点数目信息中,最大的像素点数目信息对应的第三区域确定为所述第二目标区域。

8.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

基于所述比值确定目标曝光时间;

根据所述目标曝光时间进行平滑处理,获得所述下一帧的曝光时间。

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