[发明专利]一种流体磨具均匀性的无损检测装置及测试方法

权利要求书

1.一种流体磨具均匀性的无损测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、抽取未混合的原料中最大组分原料份，命名为x_max样品，抽取样品中最小组分原料份，命名为x_min样品，将抽取的x_max样品和x_min样品分别静置至表面流平，其中，n为样品抽取次数且n≥7；

步骤二、利用检测装置对每一份x_max样品和x_min样品分别进行测试，依据测试值计算得到相对标准偏差S_r50；

步骤三、利用绝对均匀状态坐标(0，100％)与50％不均匀状态坐标(S_r50，50％)进行线性回归，求出均匀性系数k；

步骤四、在完成混合的被测样品中随机选取n个不同的位置进行抽样获得n个被测样品，并将被测样品分别静置至被测样品表面流平；

步骤五、将每一份被测样品放置在检测设备中进行测试，并根据该测试结果计算相对标准偏差S_r；

步骤六、根据均匀性H_g的计算公式，计算得到被检测产品的均匀性指标；

步骤七、当均匀性H_g≥95.0％时，判断被测样品为均匀，若H_g＜95.0％则判断为被测样品不均匀，此时需排查各检测、生产要素，确定发生不均匀的原因，并采取针对性措施。

2.根据权利要求1所述的流体磨具均匀性的无损测试方法，其特征在于，所述相对标准偏差S_r的公式为：

其中，x_i为被测试产品第i个样品的测试值，为被测试产品的测试值平均值，n为被测试产品的抽样数量。

3.根据权利要求2所述的流体磨具流均匀性的无损测试方法，其特征在于，所述均匀性H_g的公式为：

H_g＝1-k×S_r

其中，k为均匀性系数，H_g为被测试产品的均匀性，S_r为被测试产品的相对标准偏差。

4.根据权利要求2或3所述的流体磨具流均匀性的无损测试方法，其特征在于，所述样品完全混合均匀的状态为绝对均匀状态，在绝对均匀状态下：

S_r＝0，H_g＝100％。

5.根据权利要求4所述的流体磨具均匀性的无损测试方法，其特征在于，所述x_max样品与x_min样品测试值的平均值状态为50％不均匀状态，在50％不均匀状态下：H_g＝50％。

6.一种如权利要求1-5中任意一项所述的流体磨具均匀性的无损测试方法的无损检测装置，其特征在于，包括交互显示屏(1)、数据处理系统(2)、外壳(3)与检测系统，交互显示屏(1)和检测系统均与数据处理系统(2)相连接；

交互显示屏(1)设置在外壳(3)外侧，数据处理系统(2)和检测系统均设置在外壳内部。

7.根据权利要求6所述的流体磨具均匀性的无损测试方法的无损检测装置，其特征在于，所述检测系统包括屏蔽罩(4)、至少两个样品杯(5)、信号源(6)与样品杯架(7)，样品杯(5)设置在信号源(6)内侧，屏蔽罩(4)设置在信号源(6)外侧，样品杯架(7)设置在样品杯(5)底部，信号源(6)与数据处理系统(2)相连接。

8.根据权利要求7所述的流体磨具均匀性的无损测试方法的无损检测装置，其特征在于，所述信号源(6)包括通电线圈、电容和信号发生器，通电线圈和电容均与信号发生器相连接，样品杯(5)设置在通电线圈内部，信号发生器与数据处理系统相连接。

9.根据权利要求7或8中任意一项所述的流体磨具均匀性的无损测试方法的无损检测装置，其特征在于，所述样品杯(5)的材料为非金属材质。