[发明专利]用于透明陶瓷板拼接平面度的检测装置及半定量测试方法

权利要求书

1.一种用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，该装置包括支架及设备平台组件、测量组件、以及参比样品组件；

所述支架及设备平台组件包括：

三脚支架，由落点为等腰三角形的刚性不可调节的支撑脚及与设备平台的连接件组成；支撑脚直接与测试样品或参比样品接触，上端连接件与设备平台连接；

设备平台，为刚性矩形且中部为中空结构，矩形边框用于安装固定测量组件，中空结构用于测量组件的光信号传播；

三脚支架与设备平台相对位置固定不可调；

所述测量组件用于半定量地测量透明陶瓷拼接板在拼接后的平面度和光学一致性，可用于直观体现拼缝处的缺陷情况；

所述参比样品组件包括一个完美无缺陷平面参比样品和数个预设缺陷的参比样品，用以在测量过程中针对测试样品的光斑形状信息进行比对。

2.根据权利要求1所述的用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，所述测量组件包括：线束激光辅助定位系统、平面光发生装置、观测装置；

线束激光辅助定位系统：用于产生线束激光，垂直向下照射测量平面，通过对齐拼缝以完成平面度检测装置的整体定位；

平面光发生装置用于产生平行稳定的光束；所述平面光发生装置产生的光线斜向照向测试样品或参比样品，在测试平面产生光斑，光斑位于设备平台在测试平面投影的几何中心位置；

观测装置用于采集经由测试样品或参比样品反射的光线，观测装置上有对比刻度标准，辅助判定测试样品相对于标准平面的畸变情况；观察投射在测试样品或参比样品上的光斑与刻度线的相对位置和形状等相关信息。

3.根据权利要求1所述的用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，所述测量组件安装位置如下：

所述线束激光辅助定位系统为一组两个带有线形狭缝的激光器，分别安装在设备平台的两条边框中点之下；

所述平面光发生装置安装于设备平台一侧的边框中点之上，且该侧下方是等腰三角形支架的底边所在侧；

所述观测装置安装于平面光发生装置对侧的设备平台边框中点之上。

4.根据权利要求1所述的用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，所述观测装置为目镜或摄像装置，在镜头上设置或以附件的形式做成多同心圆标尺，作为对比刻度标准，若采用摄像装置作为观察设备，采用镜头外附加带刻度的配件的形式；若采用肉眼直接观测，则使用刻蚀有刻度的目镜。

5.根据权利要求1所述的用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，所述平面光发生装置与所述观测装置对于测量平面的夹角相同，以保证测量完美平面时，目镜或摄像装置观察的反射光位于标尺中心。

6.根据权利要求1所述的用于透明陶瓷板拼接平面度检测装置，其特征在于，三脚支架的支撑脚为点支撑结构。

7.一种用于透明陶瓷板拼接平面度的半定量测试方法，采用如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述半定量测试方法包括一下步骤：

步骤1，将平面度测试装置置于待测平板之上，打开线束激光辅助定位系统，将激光器投射出的线形激光与拼缝重合，从而完成装置的定位；

步骤2，打开平面光源，产生的光线通过灯筒形成平行光照射到拼缝上，并在拼接板上形成光斑；

步骤3，通过观测装置采集反射光，记录反射光在标尺上的位置及形状信息；

步骤4，判别测试光斑所反映的平面度缺陷问题：在参比样品中寻找相似缺陷类型的数个样品进行测量，依次按照步骤1～3所提及的方法获得光斑信息，与测试样品光斑进行比对，并选出最接近的参比样品，记录此参比样品的缺陷类型及与标准平面的偏离程度。

8.根据权利要求7所述的用于透明陶瓷板拼接平面度的半定量测试方法，所述方法在步骤一之前还包括检测设备状态的步骤：

使用完美平面度的参比样品校准装置，反射光光斑在观测装置同心圆标尺上的位置及形状应符合默认状态。