[发明专利]一种手术无影灯照度参数测试方法在审

专利信息
申请号: 202210685354.9 申请日: 2022-06-17
公开(公告)号: CN114858421A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 宋鹏;马玉慧;张玉华;孔强强;颜廷伟;辛玲;王美霞;谭晨;宋庆军 申请(专利权)人: 济宁半导体及显示产品质量监督检验中心
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 济南格源知识产权代理有限公司 37306 代理人: 张蕾
地址: 272000 山东省济宁*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 手术 无影灯 照度 参数 测试 方法
【说明书】:

发明涉及照度参数测试技术领域,具体为一种手术无影灯照度参数测试方法,测试时手术无影灯呈正常使用状态放在工作台一旁,亮度计设置在手术无影灯一侧,漫反射白板放置在工作台台面上,开启手术无影灯照射漫反射白板,使手术无影灯光斑位于漫反射白板上,用亮度计拍摄工作台面上的漫反射白板得到漫反射白板的亮度分布图像,获得图像中最大反射亮度点位和每一个规定点位的漫反射亮度值,再根据漫反射亮度和照度的关系公式获得手术无影灯光斑的照度值,进而得到手术无影灯光斑的各项照度参数,本发明的测试装置简单,无需特制的辅助装置,测试方法可保证照度量值的准确性和重复性,同时可避免单点测试时间不一致带来的固有误差。

技术领域

本发明涉及照度参数测试技术领域,具体涉及一种手术无影灯照度参数测试方法。

背景技术

手术无影灯是医院手术室重要设备之一,其照度等性能好坏将关乎手术质量和病人健康,因此国际、国内都颁布了相关质量检验标准,如国际标准(IEC60601-2-41)和国内标准(YY9706.241),然而目前在进行手术无影灯照度检测时,并无较精确先进的相关检测装置,一些简陋的检测装置和方法无法保证检测结果的精确性和检测条件的重复性,不利于提高产品质量和新产品研发。

目前较多采用的检测方法是将手术无影灯的灯头安放在一个支架上,在灯头发光面下方的水平面上,通过不断移动照度计来寻找最大照度点,定为中心照度,然后以中心照度点为基点,沿不同的方向移动照度计并记录照度读数的变化,由此测得各照度特性参数。这种方法存在以下不足,第一,由于灯头固定方法的局限性,不能精确地实现灯头的光轴与照度计探头表面相垂直;第二,照度计探头在水平面上沿各方向的位移量或转角量的度量不够精确,位置重复性也较难控制;第三,照度计探头的移动和示数读取时不可避免的人员遮挡都会对照度参数的准确性产生影响;第四,照度计探头的移动定位和示数读取都需要时间,每一个点位的照度值都不是同一时间完成的,测试时间间隔内灯头的光衰不可避免的影响最终结果的准确性。这些不足均影响检测工作的效率和精度。目前,针对这些不足的技术改进,均集中在灯头固定夹具的方便调节和照度计夹具高精度定位上,甚至还采用了无线照度计可远程读取的方式来避免读数时因操作人员遮挡造成的误差。这些技术改进都只能减小测试误差,无法避免误差的产生。

发明内容

为解决背景技术中存在的问题,本发明提出了一种手术无影灯照度参数测试方法,包括以下步骤:

步骤1、在光学暗室内进行测试,将手术无影灯按正常使用状态放置到工作台一旁,开启手术无影灯,使手术无影灯光斑照射在工作台台面上,在工作台台面被光斑照射的位置放置漫反射白板,且漫反射白板的尺寸大于手术无影灯光斑的尺寸,使漫反射白板与手术无影灯发光面距离为1000mm;

步骤2、启动亮度计拍摄工作台台面,获得亮度计视野内亮度分布图像,亮度计拍摄的范围大于等于漫反射白板的大小;

步骤3、处理亮度计视野内亮度分布图像,在亮度计视野内亮度分布图像内选取评估区域,评估区域为漫反射白板亮度分布图像,在评估区域中均匀设置多个圆形参考点,参考点直径为1cm,获得漫反射白板亮度分布图像中每一参考点的漫反射亮度值;

步骤4、根据所获得的漫反射亮度值并结合漫反射亮度和照度的关系公式E=πL/ρ,获得手术无影灯光斑的中心照度Ec和光斑分布直径d50或d10,上述公式中L为漫反射亮度,E为照度,π为常数,ρ为白板漫反射率。

优选的,所述手术无影灯的中心照度Ec是指距离手术无影灯1000mm处光斑内的最大照度,手术无影灯中心照度Ec计算方法为:获得漫反射白板亮度分布图像中每一参考点的漫反射亮度L,找出评估区域中最大亮度参考点,最大亮度参考点即为中心照度点,根据漫反射亮度L和照度E的关系公式E=πL/ρ,由最大亮度参考点的漫反射亮度值Lmax可计算得出手术无影灯中心照度Ec值,即Ec=πLmax/ρ;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于济宁半导体及显示产品质量监督检验中心,未经济宁半导体及显示产品质量监督检验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210685354.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top