[发明专利]激光测距仪的检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开提供一种激光测距仪的检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述激光测距仪的检测方法包括：获取待检测激光测距仪的目标性能数据；通过预设的分类模型对所述目标性能数据进行分类，得到分类结果；根据所述分类结果得到所述待检测激光测距仪的检测结果。通过获取待检测激光测距仪的目标性能数据，使用预设的分类模型对目标性能数据进行分类，根据分类结果得到待检测激光测距仪的检测结果，利用了目标性能数据和分类模型将待检测激光测距仪进行分类，不需要大量的人力、物力和时间，提高了激光测距仪的检测效率。

技术领域

本发明涉及激光测距仪的检测技术领域，具体涉及一种激光测距仪的检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

激光测距仪是一种用于测量目标物与当前位置距离的仪器，激光测距仪在出厂前一般会进行检测，确保出厂的产品质量。现有的检测方式主要是通过用皮尺量出标靶到测距仪之间的距离，以及与激光测距仪检测到的其与标靶之间距离进行比较来判断测距仪的精度和误差，该测试方法无法排除地形，天气环境和人的误操作所带来的误差，而且一个合格的激光测距仪往往涉及众多的判断标准，需要从大量的性能指标中综合出该激光测距仪是否合格，会需要大量的人力，物力和时间，具有误差大，费用高，低效率，操作复杂等缺点，使得现有激光测距仪的检测效率不高。

发明内容

本发明实施例提供了一种激光测距仪的检测方法、装置、电子设备及存储介质，旨在解决现有激光测距仪的检测效率不高的问题，通过获取待检测激光测距仪的目标性能数据，使用预设的分类模型对目标性能数据进行分类，根据分类结果得到待检测激光测距仪的检测结果，利用了目标性能数据和分类模型将待检测激光测距仪进行分类，不需要大量的人力、物力和时间，提高了激光测距仪的检测效率。

第一方面，本发明实施例提供一种激光测距仪的检测方法，所述方法包括：

获取待检测激光测距仪的目标性能数据；

通过预设的分类模型对所述目标性能数据进行分类，得到分类结果；

根据所述分类结果得到所述待检测激光测距仪的检测结果。

可选的，在所述通过预测的分类模型对所述目标性能数据进行分类，得到分类结果的步骤之前，所述方法还包括：

获取激光测距仪的实验性能数据，对所述实验性能数据进行降维处理，得到样本数据；

根据所述样本数据，训练得到分类模型。

可选的，在所述通过预测的分类模型对所述目标性能数据进行分类，得到分类结果的步骤之前，所述方法还包括：

获取待检测激光测距仪的综合性能数据，对所述综合性能数据进行降维处理，得到目标性能数据，所述目标性能数据与所述样本数据具有相同的维数。

可选的，所述获取激光测距仪的实验性能数据，对所述实验性能数据进行降维处理，得到样本数据的步骤包括：

对N个激光测距仪的进行性能实验，得到N个所述激光测距仪对应的实验性能数据，所述实验性能数据包括M个性能指标数据；

通过主成份分析方法对的实验性能数据进行降维，得到样本数据，所述样本数据包括K个性能指标数据，其中，K小于M。

可选的，所述N个激光测距仪中包括n1个合格的激光测距仪和n2个不合格的激光测距仪，所述通过主成份分析方法对的实验性能数据进行降维，得到样本数据的步骤包括：

通过主成份分析方法对n1个合格的激光测距仪对应的实验性能数据进行降维，得到第一样本数据，所述第一样本数据包括k1个性能指标数据；

通过主成份分析方法对n2个不合格的激光测距仪对应的实验性能数据进行降维，得到第二样本数据，所述第二样本数据包括k2个性能指标数据；