[发明专利]基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统

说明书

本申请公开了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统。首先获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；然后构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建校准模型；最后基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值；将I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对信号源设备进行校准。本发明通过将寻求预设输出频率下的检波电压对应的最佳的I、Q偏置值的过程建模为寻找极值的过程，大幅降低了算法复杂度，减少了操作次数，实现了在较短的时间内完成校准过程的目标。

技术领域

本发明涉及信号校准领域，特别涉及一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统。

背景技术

本振泄露是泄露到输出口或输入口的本振信号。在信号源设备中，由于上变频模块存在固有的直流偏置，必然会导致存在本振泄露，并从而影响到输出信号的SNR，从而导致输出信号的EVM恶化。但是本振泄露是可以通过设备出厂前的校准来加以调整和抑制的。

常规的本振泄露校准方法是对有限输出范围内的频率按照固定步进进行分隔取样，并进一步对信号的I、Q偏置按照同样的步进进行逐点取样，最终在所有获取到的结果数据样本集中找到极值点，并将此时的I、Q偏置值作为校准值。这种方法有两个明显的缺点：1，穷举法导致要检测的样点过多，导致校准效率低下，要对所有可能的频点进行一遍校准需要很长的时间；2，固定的步进导致校准精度受限于步进大小，得到的校准结果并不是最优。

发明内容

基于此，本申请实施例提供了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统，极大的提高了校准效率和校准精度。

第一方面，提供了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法，该方法包括：

获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；

构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建所述校准模型；

基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值；将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准。

可选地，构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：

S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；

S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；

S3，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；

S4，固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；

S5，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；

S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间，所述第二步进值小于所述第一步进值。

可选地，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：

确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；

当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；