[发明专利]基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210649417.5 申请日: 2022-06-10
公开(公告)号: CN114745063B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 杜海兵;程军强;段相丰 申请(专利权)人: 中星联华科技(北京)有限公司
主分类号: H04B17/11 分类号: H04B17/11;H04B17/21
代理公司: 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 代理人: 丁彦峰
地址: 100176 北京市大兴区北京经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 网格 取样 极值 获取 泄露 校准 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法,其特征在于,所述方法包括:

获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压;

构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型;其中,通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系,从而构建所述校准模型;

基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值;将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准;

构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括:

S1,设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值;

S2,固定初始Q偏置值,以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点,并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压,从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系;

S3,基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值;

S4,固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值,以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点,并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压,从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系;

S5,基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值;

S6,设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值,并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换,进行下一轮迭代;其中,所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间,所述第二步进值小于所述第一步进值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值,包括:

确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线;

当所述变化曲线具有至少两个极大值点时,则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值;

当所述变化曲线具有只有一个极大值点时,则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值,包括:

确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线;

当所述变化曲线具有至少两个极大值点时,则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值;

当所述变化曲线具有只有一个极大值点时,则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值包括:

通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。

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