[发明专利]一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法在审
申请号: | 202210644919.9 | 申请日: | 2022-06-09 |
公开(公告)号: | CN114923942A | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 袁志勇;阎法强;杨海;李凯;杨山;黄李璐;吴英豪;张丽庆;许承铭 | 申请(专利权)人: | 芦溪高压电瓷电气研究院有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/2202 |
代理公司: | 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 337200 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电瓷瓷件 内部 刚玉 含量 测试 计算方法 | ||
1.一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,包括:
步骤(1):对电瓷瓷件进行预处理,得到测试样品;
步骤(2):将所述测试样品置于烧杯中,加入氢氟酸,发生反应;
步骤(3):计算所述步骤(2)反应完全后得到的残渣在所述测试样品中的含量百分比ω;
步骤(4):通过所述残渣中SiO2的含量D,反推莫来石中的Al2O3在所述残渣中的含量G;
步骤(5):根据所述残渣在测试样品中的含量百分比ω、所述残渣中Al2O3的含量E以及所述莫来石中的Al2O3在所述残渣中的含量G计算所述测试样品中刚玉相的含量百分比M。
2.根据权利要求1所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,步骤(1)中,所述预处理包括:去除瓷砂、釉层,破碎、研磨以及干燥。
3.根据权利要求2所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,在经过所述研磨后得到的瓷粉能通过≥200目的筛网。
4.根据权利要求1所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,步骤(2)中,所述测试样品的质量为Ag;所述氢氟酸浓度为40%,质量为Lml;L:A≥100。
5.根据权利要求4所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,步骤(3)中,通过对所述步骤(2)反应完全后得到的残渣进行过滤、清洗后,置于恒重为Bg的坩埚中灰化,随后将带有所述残渣的坩埚放入800℃马弗炉中保温1h至恒重,再放入干燥器中冷却至室温,称量带有所述残渣的坩埚为Cg,通过下式计算所述残渣在所述测试样品中的含量百分比ω:
ω=(C-B)/A*100%;
其中,ω为所述残渣在所述测试样品中的含量百分比;C为带有所述残渣的坩埚的质量;B为所述坩埚的质量;A为所述测试样品的质量。
6.根据权利要求1所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,步骤(4)中,采用X-射线荧光光谱得到所述残渣中SiO2的含量D,采用以下公式反推莫来石中的Al2O3在所述残渣中的含量G:
F=D/0.2817;
G=F*0.7183;
其中,F为所述残渣中莫来石的含量;D为所述残渣中SiO2的含量;0.2817为SiO2在莫来石中的相对分子质量含量百分比;G为所述莫来石中的Al2O3在所述残渣中的含量;0.7183为Al2O3在所述莫来石中的相对分子质量含量百分比。
7.根据权利要求1所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,步骤(5)中,采用X-射线荧光光谱得到所述残渣中Al2O3的含量E,采用以下公式计算所述测试样品中刚玉相的含量百分比M:
M=(E-G)*ω;
其中,M为所述测试样品中刚玉相的含量百分比;E为所述残渣中Al2O3的含量;G为所述莫来石中的Al2O3在所述残渣中的含量;ω为所述残渣在所述测试样品中的含量百分比。
8.根据权利要求1所述的一种电瓷瓷件内部刚玉相含量的测试和计算方法,其特征在于,在步骤(5)计算所述测试样品中刚玉相的含量百分比M后,还包括:将所述测试样品中刚玉相的含量百分比M与通过XRD图谱得出的电瓷中的刚玉相含量进行对比论证。
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