[发明专利]一种存内计算装置有效
申请号: | 202210637486.4 | 申请日: | 2022-06-08 |
公开(公告)号: | CN114706555B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 乔树山;曹景楠;尚德龙;周玉梅 | 申请(专利权)人: | 中科南京智能技术研究院 |
主分类号: | G06F7/575 | 分类号: | G06F7/575;G06F7/544 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王爱涛 |
地址: | 211100 江苏省南京市江宁*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 计算 装置 | ||
本发明涉及一种存内计算装置。该装置包括3个8T SRAM单元、与门AND11、与门AND12、与门AND13、排序器以及计算电路,3个8T SRAM单元均用于存储权重;所述与门AND11、所述与门AND12以及所述与门AND13均用于将权重输入数据与8T SRAM单元存储的权重进行逐位乘法运算;所述排序器用于用于对乘法结果进行排序;所述计算电路用于对排序结果进行计算。本发明能够提高电路的运算速度和稳定性。
技术领域
本发明涉及存储器领域,特别是涉及一种存内计算装置。
背景技术
在现有的存内计算结构中,主要采用了模拟电路的方法实现MAC运算,这样得到的结果精度较差,且性能有很大一部分因素取决于工艺的好坏,受PVT影响较大。因此,纯数字存内计算单元是必要的,它可以很大程度上避免这些模拟因素的影响。
在纯数字存内计算结构中,加法器的电路开销是最大的。因此,纯数字存内计算结构的主要优化方向是对加法器的优化。因此,如何减小加法器的电路开销,提高电路的运算速度和稳定性是目前亟需解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种存内计算装置,能够提高电路的运算速度和稳定性。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
一种存内计算装置,包括:3个8T SRAM单元、与门AND11、与门AND12、与门AND13、排序器以及计算电路;
一所述8T SRAM单元的输出端与所述与门AND11的第一输入端连接,所述与门AND11的第二输入端与权重输入数据连接;
另一所述8T SRAM单元的输出端与所述与门AND12的第一输入端连接,所述与门AND12的第二输入端与权重输入数据连接;
另一所述8T SRAM单元的输出端与所述与门AND13的第一输入端连接,所述与门AND13的第二输入端与权重输入数据连接;
所述排序器的输入端分别与所述与门AND11的输出端、所述与门AND12的输出端以及所述与门AND13的输出端连接;所述排序器的输出端与所述计算电路连接;
3个所述8T SRAM单元均用于存储权重;
所述与门AND11、所述与门AND12以及所述与门AND13均用于将权重输入数据与8TSRAM单元存储的权重进行逐位乘法运算;
所述排序器用于用于对乘法结果进行排序;
所述计算电路用于对排序结果进行计算。
可选地,所述8T SRAM单元包括:管N1、管N2、管N3、管N4、管N5、管N6、管P1以及管P2;
所述管P1的栅极与管N1的栅极连接,所述管P1的源极接VDD,所述管P1的漏极与所述管N1的漏极连接;所述管N1的源极接VSS;
所述管P2的栅极与所述管N2的栅极连接,所述管P2的源极接VDD,所述管P2的漏极与所述管N2的漏极连接;所述管N2的源极接VSS;
所述管N3的栅极接字线WL,所述管N3的源极接位线BL,所述管N3的漏极分别与所述管P1和所述管N1的漏极连接;
所述管N4的栅极接字线WL,所述管N4的源极接位线BLB,所述管N4的漏极分别与所述管P2和所述管N2的漏极连接;
所述管N5的栅极分别与所述管P2和所述管N2的漏极连接,所述管N5的源极接VSS,所述管N5的漏极与所述管N6的漏极连接;
所述管N6的栅极接读字线RWL,所述管N6的源极接读位线RBLB。
可选地,所述管N1、管N2、管N3、管N4、管N5以及管N6均为NMOS管。
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