[发明专利]热电阻通道共模/差模抑制比测量方法及电子设备

权利要求书

1.一种热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，所述热电阻通道采用三线制接线，其特征在于，包括：

确定热电阻通道内部电动势与温度之间的转换关系；

调整输入电压的大小，确定温度的最大波动值，基于内部电动势与温度之间的转换关系，确定内部电动势的最大波动值；

基于输入电压和内部电动势的最大波动值，计算共模/差模抑制比。

2.根据权利要求1所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，还包括：

将信号源和共模/差模干扰电压源与所述热电阻通道连接，以所述共模/差模干扰电压源作为所述热电阻通道的输入电压。

3.根据权利要求2所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，所述确定热电阻通道内部电动势与温度之间的转换关系，包括：

设立热电阻通道内部电动势与温度之间的线性方程；

获取不同信号源下热电阻通道内部电动势数值、以及获取对应不同信号源下热电阻通道内部电动势的温度数值；

将内部电动势数值和对应的温度数值带入所述线性方程求解，得出热电阻通道内部电动势与温度之间的线性关系。

4.根据权利要求3所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，所述线性方程如下：

T＝a*U+b；

其中，T表示温度，U表示内部电动势，a、b表示系数。

5.根据权利要求3所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，所述获取不同信号源下热电阻通道内部电动势数值，包括：

测量不同信号源下热电阻通道的端口电压和内部电阻，基于测量到的端口电压和内部电阻，计算热电阻通道内部电动势。

6.根据权利要求5所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，利用万用表测量所述热电阻通道的端口电压和内部电阻的数值。

7.根据权利要求2所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，通过调整共模/差模干扰电压源输出的电压大小实现所述输入电压大小的调整。

8.根据权利要求1所述的热电阻通道共模/差模抑制比测量方法，其特征在于，所述共模/差模抑制比通过以下方程计算：

CMRRca＝20lg(Un/ΔU)；

其中，CMRRca表示共模/差模抑制比，Un表示输入电压，ΔU表示内部电动势的最大波动值。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机指令，所述计算机指令在计算机上执行时，使得所述计算机执行权利要求1-8中任一项所述的方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器、存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述电子设备执行权利要求1-8中任一项所述的方法。