[发明专利]X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法在审
申请号: | 202210598927.4 | 申请日: | 2022-05-30 |
公开(公告)号: | CN115460360A | 公开(公告)日: | 2022-12-09 |
发明(设计)人: | 高桥浩三;久保田章敬 | 申请(专利权)人: | 夏普显示科技株式会社 |
主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367;H04N5/20;H04N5/32;G03B42/02;H01L27/146 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝;刘宁军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 摄像 装置 控制 方法 | ||
提供一种X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法,不设置高输出的X射线源就能按每一像素来提高画质。X射线摄像装置(100)具备X射线源(4)、X射线摄像面板(10)以及控制部(3)。控制部(3)包含:图像处理部,其对TFT供应栅极信号,基于从TFT读出的数据信号来生成检查摄像图像;检测控制部,其从检查摄像图像来检测黑点像素;以及阈值校正部,其对与黑点像素对应的TFT的栅极施加使该TFT的栅极截止阈值电压上升的正向移位电压。
技术领域
本公开涉及X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法。
背景技术
以往,已知具备薄膜晶体管的X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法。这种X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法例如公开于专利文献1中。
在上述专利文献1的X射线摄像装置(固体X射线检测器)中,X射线检测器的一部分被放射线遮挡物质覆盖。并且,足以达到规定阈值的等级的放射线(X射线)被照射到X射线检测器的露出部分。固体X射线检测器获取放射线图像,判定是否存在线条伪影。将判定为存在线条伪影的数据线保存到图像处理器。并且,与判定为表现出线条伪影的数据线连接的像素的像素值被置换为与该数据线相邻的2条数据线的像素值的平均值。由此,X射线检测器的薄膜晶体管的泄露信号大、包含易于产生线条伪影的像素的数据线所连接的多个像素的像素值得以修正。
专利文献1:特表2004-521721号公报
发明内容
在上述专利文献1的X射线摄像装置中,为了产生线条伪影,需要设置与通常的X射线摄像所使用的X射线源相比能照射更强的X射线的X射线源(高输出的X射线源)。并且,在上述专利文献1的X射线摄像装置中,与判定为表现出线条伪影的数据线连接的全部像素的像素值被置换为与该数据线相邻的2条数据线所连接的像素的像素值的平均值。因此,在上述专利文献1的X射线摄像装置中有如下问题:针对不需要进行像素值的修正的像素,其像素值也会被置换(被修正)。
因此,本公开是为了解决上述这样的问题而完成的,其目的在于提供一种X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法,不设置高输出的X射线源就能按每一像素来提高画质。
为了解决上述问题,本公开的第1方面是一种X射线摄像装置,具备:X射线源;X射线摄像面板,其包含将从上述X射线源照射的X射线转换为光的闪烁体、将来自该闪烁体的光转换为电信号的光电转换元件、以及连接到该光电转换元件的薄膜晶体管;以及控制部,其控制由上述X射线源进行的X射线的照射和由上述X射线摄像面板进行的摄像,上述控制部包含:图像处理部,其对上述薄膜晶体管供应栅极信号,基于从上述薄膜晶体管读出的数据信号来生成检查摄像图像,所述检查摄像图像是在上述X射线源与上述X射线摄像面板之间未配置被摄体的状态下进行摄像所得到的摄像图像;检测控制部,其从上述检查摄像图像检测黑点像素;以及阈值校正部,其对与上述黑点像素对应的薄膜晶体管的栅极施加使该薄膜晶体管的栅极截止阈值电压上升的正向移位电压。
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