[发明专利]X射线摄像装置和X射线摄像装置的控制方法在审

专利信息
申请号: 202210598927.4 申请日: 2022-05-30
公开(公告)号: CN115460360A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 高桥浩三;久保田章敬 申请(专利权)人: 夏普显示科技株式会社
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367;H04N5/20;H04N5/32;G03B42/02;H01L27/146
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;刘宁军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 摄像 装置 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线摄像装置,其特征在于,具备:

X射线源;

X射线摄像面板,其包含将从上述X射线源照射的X射线转换为光的闪烁体、将来自该闪烁体的光转换为电信号的光电转换元件、以及连接到该光电转换元件的薄膜晶体管;以及

控制部,其控制由上述X射线源进行的X射线的照射和由上述X射线摄像面板进行的摄像,

上述控制部包含:

图像处理部,其对上述薄膜晶体管供应栅极信号,基于从上述薄膜晶体管读出的数据信号来生成检查摄像图像,所述检查摄像图像是在上述X射线源与上述X射线摄像面板之间未配置被摄体的状态下进行摄像所得到的摄像图像;

检测控制部,其从上述检查摄像图像检测黑点像素;以及

阈值校正部,其对与上述黑点像素对应的薄膜晶体管的栅极施加使该薄膜晶体管的栅极截止阈值电压上升的正向移位电压。

2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其中,

上述图像处理部将具有检查电压值的栅极信号供应到上述薄膜晶体管,基于从上述薄膜晶体管读出的数据信号来生成上述检查摄像图像,所述检查电压值是比在对被摄体进行摄像的情况下供应到上述薄膜晶体管的栅极截止电压高的栅极截止电压。

3.根据权利要求1或2所述的X射线摄像装置,其中,

还具备存储部,

上述检测控制部使上述存储部存储与上述黑点像素对应的坐标的信息,

上述阈值校正部对基于上述坐标的信息的薄膜晶体管的栅极施加上述正向移位电压。

4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的X射线摄像装置,其中,

上述检测控制部将比上述摄像图像中的2个以上的像素的像素值的平均值、中间值或者众数值之中的任意一个值小了规定值以上的像素检测为上述黑点像素。

5.一种X射线摄像装置的控制方法,所述X射线摄像装置具备:

X射线源;以及

X射线摄像面板,其包含将从上述X射线源照射的X射线转换为光的闪烁体、将来自该闪烁体的光转换为电信号的光电转换元件、以及连接到该光电转换元件的薄膜晶体管,

所述X射线摄像装置的控制方法的特征在于,具备:

从上述X射线源对上述X射线摄像面板照射X射线的步骤;

对上述薄膜晶体管供应栅极信号,基于从上述薄膜晶体管读出的数据信号来获取检查摄像图像的步骤,所述检查摄像图像是在上述X射线源与上述X射线摄像面板之间未配置被摄体的状态下进行摄像所得到的摄像图像;

从上述检查摄像图像检测黑点像素的步骤;以及

对与上述黑点像素对应的薄膜晶体管的栅极施加使该薄膜晶体管的栅极截止阈值电压上升的正向移位电压的步骤。

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