[发明专利]一种双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置

权利要求书

1.一种双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，包括机械台架，所述机械台架顶部具有工作台，所述工作台上具有驱动组件和测量组件，所述驱动组件包括位于工作台上的内圈驱动单元和外圈驱动单元，其特征在于，所述内圈驱动单元通过内圈芯轴安装被测轴承，并通过所述内圈驱动单元驱动被测轴承内圈旋转；所述外圈驱动单元包括横向驱动机构和外圈旋转驱动机构，所述横向驱动机构驱使外圈旋转驱动机构在工作台上沿横向滑动；所述外圈旋转驱动机构包括位于横向驱动机构上的外圈驱动电机，所述外圈驱动电机输出端具有驱动摩擦轮，所述驱动摩擦轮与被测轴承外圈外壁接触挤压时对被测轴承施加径向载荷，并带动被测轴承外圈的旋转。

2.根据权利要求1所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述测量组件包括位移传感器及传感器调整架，所述位移传感器通过传感器调整架安装在移动基板上，所述横向驱动机构驱使移动基板在工作台上沿横向滑动时，所述位移传感器的测头接触被测轴承外圈的外壁中央；所述位移传感器与位于机械台架上的测量电箱信号连接，所述测量电箱将位移传感器检测数据放大后上传至计算机。

3.根据权利要求1所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述内圈驱动单元与内圈芯轴之间具有高精度密珠轴系。

4.根据权利要求1所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述横向驱动机构包括滑动设置在所述工作台顶部的移动基板、位于所述工作台顶部的加载气缸，所述加载气缸活塞杆与移动基板固定连接。

5.根据权利要求1所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述工作台顶部具有导轨，所述移动基板与导轨滑动连接。

6.根据权利要求5所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述移动基板上具有与驱动摩擦轮同心设置的辅助轮，所述驱动摩擦轮和辅助轮同时与被测轴承外圈外壁接触；或/和所述驱动摩擦轮和辅助轮分居位移传感器的两侧。

7.根据权利要求1所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述位移传感器通过传感器调整架对传感器示值进行粗调和微调。

8.根据权利要求7所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述传感器调整架上具有高度调整结构，所述高度调整结构用于调节位移传感器在传感器调整架上的高度位置以适应不同直径的轴承测量需要；或/和

所述传感器调整架上具有纵向调整结构，所述纵向调整结构用于调节位移传感器在传感器调整架上的纵向位置以适应不同宽度的轴承测量需要。

9.根据权利要求8所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述高度调整结构包括位于传感器调整架上的立柱，所述位移传感器固定在传感器安装板上，所述传感器安装板沿立柱纵向滑动，并在所述立柱与传感器安装板之间设有顶丝。

10.根据权利要求8所述的双列圆柱滚子轴承旋转精度的高精度测量装置，其特征在于，所述纵向调整结构包括位于移动基板与传感器调整架之间的顶丝，所述传感器调整架沿纵向与移动基板滑动连接。