[发明专利]基于波前调制的大口径波前扫描测量装置与方法在审
申请号: | 202210546594.0 | 申请日: | 2022-05-11 |
公开(公告)号: | CN114993618A | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 朱健强;徐英明;陶华;刘诚;潘兴臣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 调制 口径 扫描 测量 装置 方法 | ||
1.一种基于波前调制的大口径波前扫描测量装置,其特征在于,包括:
结构小孔,用于对大口径待测光束进行部分透光;
编码板,设置于所述的结构小孔输出光束方向,用于对待测光束进行波前调制;
光斑探测器,设置于所述的编码板输出光束方向,用于记录待测光束的衍射光斑;
位移台,用于供所述的结构小孔、编码板和光斑探测器放置;
控制及计算模块,分别与所述的光斑探测器和位移台相连,用于控制所述的位移台移动,以及获取光斑探测器记录的衍射光斑,并进行处理。
2.根据权利要求1所述的基于波前调制的大口径波前扫描测量装置,其特征在于,所述的结构小孔,可根据待测波前的大小选择合适孔型和孔数,包括单个圆孔或以阵列排布的多孔,所述多孔为圆孔、椭圆形孔或多边形孔。
3.根据权利要求1所述的基于波前调制的大口径波前扫描测量装置,其特征在于,所述的编码板,可根据待测波前的大小选择合适密度,包括二元台阶相位波前调制器、三元台阶相位波前调制器、十元台阶相位波前调制器、连续相位调制器、连续振幅相位调制器和纯振幅型波前调制器。
4.一种基于波前调制的大口径波前扫描测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1)标定结构小孔与编码板的共同透过率函数T;
步骤2):控制及计算模块获取光斑探测器探测的衍射光斑,并记录Ijk,j=1...J,k=1...K,其中j和k分别表示通过位移台使结构小孔、编码板和光斑探测器在垂直光轴面内正交两方向的坐标位置;
步骤3):控制及计算模块初始猜测:结构小孔前的波前Eholejk,该结构小孔前的波前Eholejk经过结构小孔和编码板后的波前Emjk,Emjk=Eholejk·T;到达光斑探测器前的波前Edjk,即波前Emjk传播距离Lh后的波前Edjk,其中Lh为编码板到光斑探测器的距离;
步骤4):控制及计算模块计算待测波前Eholejk,步骤如下:
步骤4.1)更新到达光斑探测器前的新波前Ed′jk,并计算波前误差ERRjk公式如下:
Ed′jk=Ijk·exp(i·angle(Emjk));
步骤4.2)将新波前Ed′jk后向传播Lh,得到结构小孔和编码板后的更新波前Em′jk,并更新结构小孔前的更新波前Ehole′jk,公式如下:
步骤4.3)返回步骤3),并将结构小孔前的波前Eholejk替换为更新波前Ehole′jk,直到波前误差ERRjk小于预设阈值,此刻,波前Eholejk即为最终待测波前,终止循环。
5.根据权利要求1所述的基于波前调制的大口径波前扫描测量方法,其特征在于,当波前超过扫描范围时需要先进行分区域后,再进行计算每个区域待测波前,最终进行拼接得到整个待测波前。
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