[发明专利]一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种上电时序的测试方法，其特征在于，包括：

获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；

确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；

确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的测试波形之间的相关性；

根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。

2.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形和所述差分波形。

3.根据权利要求2所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序，包括：

若第一测试点的测试波形或第二测试点的测试波形分别与局部差分波形的相关性的结果大于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点不是同时上电；

若第一测试点的测试波形和第二测试点的测试波形均与局部差分波形的相关性的结果小于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点同时上电。

4.根据权利要求3所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述确定第一测试点和第二测试点不是同时上电之后，还包括：

确定第一测试点与第二测试点的上电时序差；

获取局部差分波形对所述上电时序差进行求导的求导结果；

若求导结果大于0，确定第一测试点先上电，第二测试点后上电；

若求导结果小于0，确定第二测试点先上电，第一测试点后上电。

5.根据权利要求4所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述确定第一测试点与第二测试点的上电时序差，包括：

利用如下公式进行确定：t＝(H/S)*K(d(A-B))；

所述t为上电时序差，H为示波器采样深度，S为示波器采样率，d(A-B)为局部差分波形，K(d(A-B))为局部差分波形内的离散采样点的数量。

6.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线之前，还包括：

对两个测试点的测试波形以及差分波形分别滤波处理。

7.一种上电时序的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；

计算模块，用于确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；

所述计算模块，还用于确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的波形之间的相关性；

分析模块，用于根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。