[发明专利]一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210524382.2 申请日: 2022-05-13
公开(公告)号: CN114994432A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 周旭;史全意;杨雷雷;刘蕾 申请(专利权)人: 联宝(合肥)电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R13/00
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 陈婷婷
地址: 230601 安徽省合肥市经济技*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 时序 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本公开提供了一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质,包括获取示波器输出的多个波形,包括:两个测试点的测试波形以及两个测试点之间的差分波形;确定差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线,获取局部差分波形;确定局部差分波形分别与两个测试点的测试波形之间的相关性;根据相关性的结果确定两个测试点的上电时序。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域,尤其涉及一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

电子信号的上电时序测试,通常为通过示波器的探棒对测试点进行点测,抓取波形数据,通过对两个测试点波形数据的比较获取两个测试点的信号上电顺序。

现有的示波器探棒点测通过人工实现,如使用两根单端探棒,分别对两个测试点进行点测,以获取两个测试点信号的上电顺序。若使用机械臂代替人工点测,则最少需要两根机械臂,若想把机械臂前端做到像人手一样360°无死角的点测,需要在机械臂的前端安装治具,治具上需要安装用来驱动的电机,定位的摄像头等设备,导致治具的体积很大,空间占用大,在测试点均配备一个机械臂和一根探棒,使用时容易发生相邻的两个机械臂相互干扰的情况。

发明内容

本公开提供一种上电时序测试方法、装置、电子设备及存储介质,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

本公开一方面提供一种上电时序测试方法,包括:

获取示波器输出的多个波形,包括:两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形;

确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线,获取局部差分波形;

确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的测试波形之间的相关性;

根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。

在一可实施方式中,所述获取示波器输出的多个波形,包括:

响应于示波器输出的波形触发方式,控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点,负极连接地线,以使所述示波器采集第一测试点的测试波形;

响应于示波器输出的波形触发方式,控制机械臂将探棒的正极连接地线,负极连接所述两个测试点中的第二测试点,以使所述示波器采集第二测试点的测试波形;

响应于示波器输出的波形触发方式,控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接,以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形;

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形和所述差分波形。

在一可实施方式中,所述根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序,包括:

若第一测试点的测试波形或第二测试点的测试波形分别与局部差分波形的相关性的结果大于设定阈值,确定第一测试点和第二测试点不是同时上电;

若第一测试点的测试波形和第二测试点的测试波形均与局部差分波形的相关性的结果小于设定阈值,确定第一测试点和第二测试点同时上电。

在一可实施方式中,所述确定第一测试点和第二测试点不是同时上电之后,还包括:

确定第一测试点与第二测试点的上电时序差;

获取局部差分波形对所述上电时序差进行求导的求导结果;

若求导结果大于0,确定第一测试点先上电,第二测试点后上电;

若求导结果小于0,确定第二测试点先上电,第一测试点后上电。

在一可实施方式中,所述确定第一测试点与第二测试点的上电时序差,包括:

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