[发明专利]一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开提供了一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括获取示波器输出的的水平波形、两个测试点的测试波形以及差分波形；每个波形的起始点和长度相同；为每个波形构建包含子波形数量相等的子波形集合；子波形集合中的子波形按照由长到短的顺序进行编号，确定满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定第一编号；将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

电子信号的上电时序测试，通常为通过示波器的探棒对测试点进行点测，抓取波形数据，通过对两个测试点波形数据的比较获取两个测试点的信号上电顺序。

现有的示波器探棒点测通过人工实现，如使用两根单端探棒，分别对两个测试点进行点测，以获取两个测试点信号的上电顺序。若使用机械臂代替人工点测，则最少需要两根机械臂，若想把机械臂前端做到像人手一样360°无死角的点测，需要在机械臂的前端安装治具，治具上需要安装用来驱动的电机，定位的摄像头等设备，导致治具的体积很大，空间占用大，在测试点均配备一个机械臂和一根探棒，使用时容易发生相邻的两个机械臂相互干扰的情况。

发明内容

本公开提供一种上电时序测试方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

本公开一方面提供一种上电时序的测试方法，包括：

获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

在一可实施方式中，所述获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试迪安的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

在一可实施方式中，所述为每个波形构建子波形集合，包括：