[发明专利]一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种上电时序的测试方法，其特征在于，包括：

获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

2.根据权利要求1所述上电时序的测试方法，其特征在于，所述获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

3.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述为每个波形构建子波形集合，包括：

将每个波形按照固定数值均分为多个特征点，从波形的终止点开始，从波形中依次去掉相应数量且连续的特征点后得到对应的子波形，后一次比前一次去掉的特征点的数量加1，第一次去掉的特征点的数量为0。

4.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，该方法还包括：

确定不存在满足所述条件的测试点时，确定所述两个测试点同时上电。

5.根据权利要求2至4任一项所述的上电时序的测试方法，其特征在于，若未获取到所述两个测试点之间的差分波形，该方法还包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述第二测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第二测试点的另一测试波形；

将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电；

若不匹配，则确定波形获取异常。

6.根据权利要求5所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述波形触发方式包括上升沿触发和下降沿触发。

7.一种上电时序的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

处理模块，用于为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

匹配模块，用于确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

分析模块，用于确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。