[发明专利]一种SSD老化柜及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202210508300.5 申请日: 2022-05-10
公开(公告)号: CN114913911A 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 项祥峰;陈超;武其俊 申请(专利权)人: 安徽丰士通电子科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 代理人: 付金浩
地址: 243071 安徽省马*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 ssd 老化 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种SSD老化柜,包括老化柜本体(1)和转动连接在老化柜本体(1)内腔的放置架(4),所述老化柜本体(1)的表面设置有密封保温罩(3),其特征在于:所述放置架(4)的内腔固定连接有前后隔断板(5),所述前后隔断板(5)的表面固定连接有放置板(6),所述老化柜本体(1)的顶部设置有用于驱动密封保温罩(3)开闭的驱动机构,所述老化柜本体(1)的内腔设置有保温机构;

所述老化柜本体(1)的表面固定连接有升降架(2),所述升降架(2)的内腔开设有与密封保温罩(3)的表面滑动连接的滑动槽(18);

保温机构包括固定在老化柜本体(1)表面的固定板(19),所述固定板(19)的一侧固定连接有驱动气缸(20),所述驱动气缸(20)活塞杆的一端固定连接有密封板(21),所述密封板(21)的表面分别与老化柜本体(1)和密封保温罩(3)的表面抵接。

2.根据权利要求1所述的一种SSD老化柜,其特征在于:所述固定板(19)的一侧固定连接有导向杆(22),且导向杆(22)的表面滑动连接有导向套(23),所述导向套(23)远离导向杆(22)的一端与密封板(21)的表面固定连接,保温机构设置有两个,且在老化柜本体(1)的表面对称分布。

3.根据权利要求1所述的一种SSD老化柜,其特征在于:所述老化柜本体(1)的内腔开设有与放置架(4)的表面适配的方形槽,所述放置架(4)位于初始位置时,所述前后隔断板(5)与方形槽齐平,所述放置架(4)的顶部固定连接有转动杆(8),所述转动杆(8)的顶端贯穿老化柜本体(1)的内腔并延伸至老化柜本体(1)的上方,所述老化柜本体(1)的内腔与转动杆(8)的表面转动连接,所述转动杆(8)的顶端固定连接有传动齿轮(9),所述老化柜本体(1)的顶部固定连接有用于驱动传动齿轮(9)转动的传动箱(10),所述放置板(6)的表面开设有透气孔槽(7)。

4.根据权利要求1所述的一种SSD老化柜,其特征在于:驱动机构包括固定在传动箱(10)顶部的电机箱(11)和固定在升降架(2)顶部的连接架(25),所述电机箱(11)的内腔固定连接有驱动电机(12),所述驱动电机(12)输出轴的一端通过联轴器固定连接有驱动轴(13),所述驱动轴(13)的一端与电机箱(11)的内腔转动连接,所述驱动轴(13)的表面固定连接有收线轮(14),所述收线轮(14)的表面固定连接有拉绳(15),所述拉绳(15)的表面与电机箱(11)的内腔活动连接,所述拉绳(15)的一端与密封保温罩(3)的顶部固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种SSD老化柜,其特征在于:所述连接架(25)的顶部固定连接有定滑轮安装架(16),所述定滑轮安装架(16)的内腔转动连接有定滑轮(17),所述定滑轮(17)的表面与拉绳(15)的表面传动连接。

6.根据权利要求1所述的一种SSD老化柜,其特征在于:所述老化柜本体(1)、密封保温罩(3)和升降架(2)之间形成密封结构,所述密封保温罩(3)与升降架(2)连接处固定有保温棉,所述老化柜本体(1)的表面固定连接有挤压棉(24)。

7.根据权利要求1所述的一种SSD老化柜,其特征在于:所述前后隔断板(5)和放置架(4)均为隔热材质,且放置架(4)为圆形架,通过前后隔断板(5)分为两个半圈。

8.一种SSD老化柜的使用方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤一、将硬盘分别放置在放置架(4)上的放置板(6)表面,接入稳定电压后,启动驱动电机(12),带动密封保温罩(3)向下运动,抵接在挤压棉(24)的表面,此时老化柜本体(1)、密封保温罩(3)、升降架(2)和挤压棉(24)之间形成密封空间,然后通过老化柜本体(1)内集成的加热组件进行加热,然后将放置了硬盘一侧的放置板(6)转动到老化柜本体(1)内部,转动完毕后,启动驱动气缸(20)带动密封板(21)伸出抵接在老化柜本体(1)和密封保温罩(3)之间的缝隙内,进行密封;

步骤二、此时通过驱动机构将密封保温罩(3)升起,在未放置的放置板(6)上放置好硬盘,当硬盘测试完毕之后,关闭密封保温罩(3),收回密封板(21),然后启动传动箱(10)将放置架(4)翻转,将测试完毕的硬盘转到表面,然后打开密封保温罩(3)将其取下后,放置未测试的硬盘;

步骤三、重复上述步骤,循环进行测试。

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