[发明专利]碎料检测剔除装置、检测剔除方法和分选系统在审
申请号: | 202210496650.4 | 申请日: | 2022-05-09 |
公开(公告)号: | CN114733795A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 孙靖;苏傲;蒋佳清;刘孟昊;熊勇;曹葵康;薛峰 | 申请(专利权)人: | 苏州天准科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/38 |
代理公司: | 北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940 | 代理人: | 王玉玲 |
地址: | 215153 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 剔除 装置 方法 分选 系统 | ||
本发明提供了一种碎料检测剔除装置、检测剔除方法和分选系统,属于检测分选领域,装置包括碎片检测模组、碎料剔除模组、物料流线和碎检控制器,碎料剔除模组包括碎料盒、顶吸输送带组和接料输送带组,将破碎物料截留剔除;对于完整物料,由碎检控制器控制顶吸输送带组制真空,从而将下方物料流线末端上的物料吸附并传输,在顶吸输送带组末端自然分离跌落至接料输送带组上,并继续向下游传输完整物料;通过本申请,能为片类物料的分选提供预检测及预分选,通过顶吸输送替代摆动剔料极大的提升了工作效率和产能,便于涉及片材产品的硅片、PCB领域推广应用。
技术领域
本发明属于硅片检测分选领域,涉及尾料收纳技术,具体公开了一种碎料检测剔除装置、检测剔除方法和分选系统。
背景技术
硅片作为重要的工业原材料,被广泛用于光伏、半导体领域。在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控,以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。硅片分选机是一种集成自动化、测量、视觉瑕疵检测于一体的自动化检测、分选设备,应用在太阳能硅片生产流程中,如我司申请的专利(公开号CN112605010A)公开的下料分选装置及硅片智能分选机,分选机能够实现对太阳能硅片切片、清洗后的原片进行厚度、TTV、线痕、电阻率、尺寸、脏污、崩边、隐裂等项目的测量和检测,并根据分选菜单,自动将硅片按照质量等级要求分选到不同的盒子内,充分满足硅片使用厂家的质量管控的需求,是生产中不可缺少的一个环节。
目前,在硅片料盒中,往往存在破碎的硅片,这对后续的检测造成了不良影响,因此,我司在专利CN213558494U中公开了一种碎料检测剔除装置及硅片检测分选设备,用于在检测前先将碎片剔除,以保证后续的工序稳定运行。然而,其检出的碎片在剔除时,需要通过摆动结构进行碎料与否的摆动输送,这严重限制了送料速率。因此,需要设计一种新型的碎料踢出装置,以满足当前高效高产能的需求。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种碎料检测剔除装置、检测剔除方法和分选系统,其能解决上述问题。
一种碎料检测剔除装置,包括碎片检测模组、碎料剔除模组、物料流线和碎检控制器,所述碎料剔除模组设置在所述碎片检测模组的下游;所述碎片检测模组架设在所述物料流线的上方,以对物料流线上输送的物料进行影像检测;在碎检控制器的控制下,所述碎料剔除模组对经碎片检测模组检测的物料预分选处理,将破碎物料截留剔除,而将完整物料顶吸并皮带向下游转送。
进一步的,所述碎片检测模组包括设置在检测箱架内的检测相机组件和底光源组件;所述物料流线贯穿所述检测箱架输送物料;所述检测相机组件设置在所述检测箱架顶部内侧,用于对下方物料流线上的物料采集图像;所述底光源组件设置在所述物料流线下方,用于为上方的物料提供光源以提高检测相机组件的成像效果。
进一步的,所述碎片检测模组还包括设置在检测箱架内或之前的检测吹气组件,用于在碎片检测前向物料流线上的物料上表面吹气,以将物料表面的杂尘吹离。
进一步的,所述碎料剔除模组包括设置在剔除架组上的碎料盒、顶吸输送带组和接料输送带组;所述碎料盒设置在所述物料流线末端下方,所述接料输送带组设置在所述碎料盒的末端上方,所述顶吸输送带组从上方横跨所述物料流线末端及接料输送带组前端被悬吊的设置。
进一步的,所述顶吸输送带组包括皮带架、传送带组、联轴器、顶吸电机、吸附组件、物料感应器和顶吸门架;两组传送带组设置在所述皮带架的两侧,并通过所述联轴器和顶吸电机驱动运转;所述吸附组件沿着流线传输方向设置在所述皮带架的中部,且吸附组件的吸附底面高于所述传送带组的皮带底面高度设置,以此实现分隔式吸附皮带传输物料;所述皮带架和顶吸电机通过转接板悬吊的安装至所述顶吸门架下方;所述物料感应器设置在所述皮带架的前端,用于感应是否有物料到达。
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