[发明专利]一种晶片用滚磨设备有效
申请号: | 202210488962.0 | 申请日: | 2022-05-07 |
公开(公告)号: | CN114571350B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 李果;王军涛;廖小明 | 申请(专利权)人: | 成都泰美克晶体技术有限公司 |
主分类号: | B24B31/033 | 分类号: | B24B31/033;B24B31/12;B24B55/00 |
代理公司: | 成都博领众成知识产权代理事务所(普通合伙) 51340 | 代理人: | 李昆蔚 |
地址: | 610097 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶片 用滚磨 设备 | ||
1.一种晶片用滚磨设备,其特征在于:包括主轴(1)、大圆盘(2)、第一转动副轴(3)、第二转动副轴(4)、晶片滚磨组件和驱动组件,所述主轴(1)的两端通过支撑座(5)固定在支架上,所述驱动组件设置在所述支架上且用于驱动所述主轴(1)转动,所述主轴(1)的中部同轴设置有两个互相平行的所述大圆盘(2),所述大圆盘(2)的周缘上设置有至少两个可转动所述第一转动副轴(3)和至少两个可转动所述第二转动副轴(4),所述第一转动副轴(3)与所述第二转动副轴(4)在所述大圆盘(2)上相间设置,所述第一转动副轴(3)与所述第二转动副轴(4)均与所述大圆盘(2)垂直,所述第一转动副轴(3)和所述第二转动副轴(4)的两端均设置有所述晶片滚磨组件,所有的所述第一转动副轴(3)均通过第一副同步带(6)传动连接,所述主轴(1)通过第一主同步带(7)与一个所述第一转动副轴(3)传动连接,所有的所述第二转动副轴(4)均通过第二副同步带(8)传动连接,所述主轴(1)通过第二主同步带(9)与一个所述第二转动副轴(4)传动连接,所述第一副同步带(6)和所述第二副同步带(8)设置在两个所述大圆盘(2)之间,所述第一主同步带(7)和所述第二主同步带(9)设置在所述第一副同步带(6)与所述第二副同步带(8)之间;所述晶片滚磨组件包括收纳套筒(10)、套筒端盖(11)和晶片滚磨部件,所述收纳套筒(10)的一端与转动副轴的端部固定相连,所述收纳套筒(10)的另一端设置有可拆卸的所述套筒端盖(11),所述收纳套筒(10)和所述套筒端盖(11)均与转动副轴同轴设置,所述收纳套筒(10)内设置有若干与所述收纳套筒(10)配合的所述晶片滚磨部件;所述晶片滚磨部件包括晶片滚磨柱(12)和密封盖(13),所述晶片滚磨柱(12)的两端均同轴开设有晶片滚磨腔(14),所述晶片滚磨腔(14)的开口处设置有与所述开口配合的密封盖(13)。
2.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述驱动组件包括驱动电机(15)、主动轮(16)和从动轮(17),所述驱动电机(15)固定设置在所述支架上,所述主动轮(16)固定设置在所述驱动电机(15)的输出轴上,所述从动轮(17)同轴固定设置在所述主轴(1)上,所述主动轮(16)与所述从动轮(17)之间通过传动带相连。
3.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述第一转动副轴(3)和所述第二转动副轴(4)在所述大圆盘(2)上呈圆形布置,两个所述大圆盘(2)之间至少通过两个连接杆(18)固定相连,所述连接杆(18)与所述主轴(1)平行。
4.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述第一转动副轴(3)和所述第二转动副轴(4)均为阶梯轴,所述阶梯轴的两端呈对称设置有轴承,所述轴承设置在所述轴承座(19)上,所述轴承座(19)固定设置在所述大圆盘(2)上。
5.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述第一主同步带(7)、所述第二主同步带(9)、所述第一副同步带(6)和所述第二副同步带(8)上均设置有用于松/紧同步带的调节组件,所述调节组件包括滑块(20)、调节轮(21)和固定块(22),所述固定块(22)设置在所述大圆盘(2)的侧壁上,所述大圆盘(2)的侧壁上设置有与所述滑块(20)配合的滑槽,所述调节轮(21)设置在所述滑块(20)上,所述调节轮(21)与同步带配合,所述固定块(22)与螺杆螺纹配合,所述螺杆的端部作用在所述滑块(20)上,所述螺杆的长度方向与所述滑槽方向平行。
6.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述第一主同步带(7)和所述第二主同步带(9)均通过大传动轮(23)与所述主轴(1)连接,所述第一副同步带(6)通过小传动轮(24)与所述第一转动副轴(3)相连,所述第二副同步带(8)通过所述小传动轮(24)与所述第二转动副轴(4)相连。
7.根据权利要求6所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述大传动轮(23)与所述小传动轮(24)的直径比为2~3:1。
8.根据权利要求1所述的一种晶片用滚磨设备,其特征在于:所述晶片滚磨腔(14)呈鼓形。
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