[发明专利]光学感测设备及光学感测设备的干扰抑制方法在审

专利信息
申请号: 202210454409.5 申请日: 2022-04-27
公开(公告)号: CN114942423A 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 张耿立 申请(专利权)人: 深圳阜时科技有限公司
主分类号: G01S7/484 分类号: G01S7/484;G01S7/4861;G01S17/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光学 设备 干扰 抑制 方法
【权利要求书】:

1.一种光学感测设备,其特征在于,包括:

光发射器,经配置在每一个第一预设周期内发射光脉冲,在每一个第二预设周期内不发射所述光脉冲,所述第一预设周期的个数和所述第二预设周期的个数相同;

光接收器,包括多个像素,每个像素用于接收被物体反射的光脉冲并转换成与接收的光脉冲相对应的电信号;

处理模块,与所述光发射器和所述光接收器电性连接,所述处理模块包括:

TDC电路,用于计算所述电信号的时间间隔,并将所述时间间隔转换为时间戳;以及

统计模块,基于所述时间戳在与所述时间戳对应的时间单元上进行计数,以得到时间单元在第一预设周期内的计数和在第二预设周期内的计数,并基于第一预设周期内计数和第二预设周期内计数的差值以得到感测数据。

2.如权利要求1所述的光学感测设备,其特征在于,所述统计模块在第一预设周期内进行第一计数,在所述第二预设周期内进行第二计数,其中,所述第一计数和所述第二计数中一者为正计数,另一者为负计数,所述第一计数和所述第二计数的计数单位相同。

3.如权利要求2所述的光学感测设备,其特征在于,所述第一计数为正计数,所述第二计数为负计数。

4.如权利要求1所述的光学感测设备,其特征在于,所述统计模块为直方图电路,所述感测数据为直方图,所述时间单元与所述直方图的分箱一一对应,所述处理模块还包括检测模块,所述检测模块用于检测直方图是否达到预设条件,当直方图达到预设条件时,所述检测模块输出控制指令以控制所述直方图电路输出直方图,所述预设条件为直方图的计数时间达到总统计周期,或者所述计数时间未达到总统计周期但所述直方图的信噪比大于预设阈值。

5.如权利要求1所述光学感测设备,其特征在于,所述第一预设周期和所述第二预设周期随机出现。

6.如权利要求5所述的光学感测设备,其特征在于,还包括随机数发生器,随机发生器将时间和光学感测设备的身份编号作为随机数的种子生成随机序列来决定进入第一预设周期或者第二预设周期。

7.一种电子设备,所述电子设备包括本体,其特征在于,所述电子设备还包括设置于本体的如权利要求1~6任意一项所述的光学感测设备。

8.一种光学感测设备的干扰抑制方法,其特征在于,所述光学感测设备包括光发射器和光接收器,所述光学感测设备的干扰抑制方法包括:

控制所述光发射器在每一个第一预设周期发射光脉冲,在每一个第二预设周期内不发射所述光脉冲,所述第一预设周期的个数和所述第二预设周期的个数相同;

利用所述光接收器接收被物体反射的光脉冲并转换成与接收的光脉冲相对应的电信号;

利用TDC电路计算电信号的时间间隔,并将所述时间间隔转换为时间戳;以及

基于所述时间戳在与所述时间戳对应的时间单元上进行计数,以得到时间单元在第一预设周期内的计数和在第二预设周期内的计数,并基于第一预设周期内计数和第二预设周期内计数的差值以得到感测数据;

其中,在所述第一预设周期进行第一计数;在所述第二预设周期进行第二计数,所述第一计数和所述第二计数中一者为正计数,另一者为负计数,所述第一计数和所述第二计数的计数单位相同。

9.如权利要求8所述的光学感测设备的干扰抑制方法,其特征在于,利用直方图实现基于所述时间戳在与所述时间戳对应的时间单元上进行计数得到时间单元在第一预设周期内的计数和在第二预设周期内的计数,所述感测数据为直方图,所述时间单元与所述直方图的分箱一一对应,所述光学感测设备的干扰抑制方法还包括:

检测直方图是否达到预设条件;

当所述直方图达到预设条件时,检测模块输出控制指令以控制所述直方图电路输出直方图,所述预设条件为所述直方图的计数时间达到总统计周期,或者所述计数时间未达到总统计周期但所述直方图的信噪比大于预设阈值。

10.如权利要求8所述的光学感测设备的干扰抑制方法,其特征在于,所述光学感测设备的干扰抑制方法还包括:

将时间和光学感测设备的身份编号作为随机数的种子;以及

根据随机数的种子生成随机序列进入第一预设周期或者第二预设周期。

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