[发明专利]一种产品寿命检测方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种产品寿命检测方法，其特征在于，包括：

为第一应力建立X1个不同的第一应力水平，为第二应力建立X2个不同的第二应力水平，并组合出X1*X2种不同的试验条件；

针对任意1种试验条件，在所述试验条件下进行样品试验，得出对应于所述试验条件的特征寿命；

基于确定出的各个试验条件及相应的特征寿命，确定出广义艾林加速模型中的各个待定参数的取值；

基于确定出各个待定参数的取值的广义艾林加速模型，进行待测产品的寿命检测；

其中，X1和X2均为正整数，且X1≥2，X2≥2。

2.根据权利要求1所述的产品寿命检测方法，其特征在于，X1和X2中至少1个大于2，所述基于确定出的各个试验条件及相应的特征寿命，确定出广义艾林加速模型中的各个待定参数的取值，包括：

确定出从X1*X2种不同的试验条件中选取4种时，得到的个不同的组合方式；

针对任意1个组合方式，基于所述组合方式下所包含的各个试验条件及相应的特征寿命，确定出在所述组合方式下的广义艾林加速模型中的各个待定参数的取值；

针对广义艾林加速模型中的任一待定参数，将确定出的个组合方式下的该待定参数的取值的平均值，作为确定出的广义艾林加速模型中的该待定参数的最终取值。

3.根据权利要求2所述的产品寿命检测方法，其特征在于，所述确定出从X1*X2种不同的试验条件中选取4种时，得到的个不同的组合方式，包括：

通过递归算法，确定出从X1*X2种不同的试验条件中选取4种时，得到的个不同的组合方式。

4.根据权利要求2所述的产品寿命检测方法，其特征在于，X1和X2的取值均为3。

5.根据权利要求1所述的产品寿命检测方法，其特征在于，所述第一应力为温度应力，所述第二应力为电应力。

6.根据权利要求1所述的产品寿命检测方法，其特征在于，所述针对任意1种试验条件，在所述试验条件下进行样品试验，得出对应于所述试验条件的特征寿命，包括：

针对任意1种试验条件，在所述试验条件下进行样品试验，按照定数截尾原理，通过威尔布分析得出对应于所述试验条件的特征寿命。

7.根据权利要求1至6任一项所述的产品寿命检测方法，其特征在于，所述广义艾林加速模型设定为：

其中，ξ表示的是特征寿命，A，B，C，D为所述广义艾林加速模型中的4个待定参数，I为电应力，T为温度应力。

8.一种产品寿命检测系统，其特征在于，包括：

试验条件确定模块，用于为第一应力建立X1个不同的第一应力水平，为第二应力建立X2个不同的第二应力水平，并组合出X1*X2种不同的试验条件；

特征寿命计算模块，用于针对任意1种试验条件，在所述试验条件下进行样品试验，得出对应于所述试验条件的特征寿命；

待定参数取值确定模块，用于基于确定出的各个试验条件及相应的特征寿命，确定出广义艾林加速模型中的各个待定参数的取值；

寿命检测执行模块，用于基于确定出各个待定参数的取值的广义艾林加速模型，进行待测产品的寿命检测；

其中，X1和X2均为正整数，且X1≥2，X2≥2。

9.一种产品寿命检测设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现如权利要求1至7任一项所述的产品寿命检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的产品寿命检测方法的步骤。