[发明专利]基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置在审
| 申请号: | 202210407000.8 | 申请日: | 2022-04-18 |
| 公开(公告)号: | CN114791608A | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
| 发明(设计)人: | 王霞;张艺馨;赵雨薇 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01S17/894 | 分类号: | G01S17/894;G01S7/48;G06T7/80 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 郑朝然 |
| 地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 波长 tof 相机 散射 介质 深度 恢复 方法 装置 | ||
1.一种基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,包括:
获取双波长TOF相机测量的在散射环境中的目标区域的第一信息和第二信息,所述第一信息对应第一波长,所述第二信息对应第二波长;获取双波长TOF相机测量的在所述散射环境中的预设点的第三信息和第四信息,所述第三信息对应第一波长,所述第四信息对应第二波长,所述目标区域包括至少一个待测点;
根据所述第三信息和第四信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比;
根据所述散射分量幅值比校正所述第二信息,根据所述第一信息和校正后的第二信息恢复对应所述目标区域的深度信息。
2.根据权利要求1所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,所述根据所述第三信息和第四信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比,包括:
将所述第三信息和第四信息分别进行标定和相量表示得到第三相量信息和第四相量信息;
获取对应所述预设点的预设相位信息;
根据所述预设相位信息、所述第三相量信息和所述第四相量信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比。
3.根据权利要求2任一项所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,所述根据所述散射分量幅值比校正所述第二信息,根据所述第一信息和校正后的第二信息恢复对应所述目标区域的深度信息,包括:
将所述第一信息和第二信息分别进行标定和相量表示,得到第一相量信息和第二相量信息;
在极坐标下,根据所述散射分量幅值比扩大所述第二相量信息,得到校正后的第二相量信息;
根据所述第一相量信息和校正后的第二相量信息恢复对应所述目标区域的深度信息。
4.根据权利要求3所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,所述根据所述第一相量信息和校正后的第二相量信息恢复对应所述目标区域的深度信息,包括:
将所述第一相量信息和校正后的第二相量信息做差,根据差值恢复对应所述目标区域的深度信息。
5.根据权利要求1-4任一项所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,所述第一信息包括第一相位信息和第一振幅信息,所述第二信息包括第二相位信息和第二振幅信息,所述第三信息包括第三相位信息和第三振幅信息,所述第四信息包括第四相位信息和第四振幅信息。
6.一种基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复装置,其特征在于,包括:
第一处理模块,用于获取双波长TOF相机测量的在散射环境中的目标区域的第一信息和第二信息,所述第一信息对应第一波长,所述第二信息对应第二波长;获取双波长TOF相机测量的在所述散射环境中的预设点的第三信息和第四信息,所述第三信息对应第一波长,所述第四信息对应第二波长,所述目标区域包括至少一个待测点;
第二处理模块,用于根据所述第三信息和第四信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比;
第三处理模块,用于根据所述散射分量幅值比校正所述第二信息,根据所述第一信息和校正后的第二信息恢复对应所述目标区域的深度信息。
7.根据权利要求6所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复装置,其特征在于,所述第二处理模块,还用于:
将所述第三信息和第四信息分别进行标定和相量表示得到第三相量信息和第四相量信息;
获取对应所述预设点的预设相位信息;
根据所述预设相位信息、所述第三相量信息和所述第四相量信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比。
8.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5任一项所述的基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法的步骤。
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