[发明专利]物料管控系统

说明书

本发明提供的物料管控系统中，存储模块存储机台和原物料的特征信息，该特征信息包括机台名称、原物料料号、原物料批号、原物料过期时间、原物料更换时间、原物料更换后的初始总量和机台参数对应的原物料使用量；获取模块实时获取机台在更换原物料后使用的机台参数，该机台参数与该原物料对应，并获取该机台参数对应的过货数量；计算模块根据该过货数量和该机台参数对应的原物料使用量计算出机台上该原物料的消耗量，并对该原物料更换后的初始总量和该消耗量求差以获得机台上该原物料的剩余量，如此便于评估机台上原物料的过期风险，进而使得使用者能够拥有足够的时间来实施调整决策以避免机台上的原物料过期，有助于减少成本损失。

技术领域

本发明涉及半导体制造技术领域，特别涉及一种物料管控系统。

背景技术

芯片生产对原物料要求极高，原物料中的金属离子，颗粒物和化学特性等都被限定在一个很小的波动范围内。由于部分原物料本身的化学性质较为活泼，随着时间的推移，其特性容易发生变化导致其无法满足芯片生产需求，即部分原物料容易过期。而且，部分原物料到厂有效期很短，例如光阻一般只有2～6个月的到厂有效期。目前，芯片生产工厂(Fab)都会有专门的物料管理部门来管控厂内原物料的采购。

但是，目前机台上的原物料有效期管控仍是一个盲点。由于机台数量众多，且机台的过货(Run货)种类和数量不均衡，常出现机台上一种原物料持续消耗，另一种原物料却长期不用的情况。在接收到机台上原物料即将过期的讯息时，往往没有充足的时间来调整机台过货搭配以消耗即将过期的原物料；如果继续使用过期的原物料，则容易出现产品质量问题，但是报废过期的原物料又会造成成本损失。因此，如何监控机台上的原物料急需解决。

发明内容

本发明的目的之一是提供一种物料管控系统，可以实时监控机台上的原物料剩余量，以便于评估机台上原物料的过期风险，且使得使用者能够拥有足够的时间来实施调整决策以避免机台上的原物料过期，有助于减少成本损失。

为了实现上述目的，本发明提供一种物料管控系统。所述物料管控系统包括：

存储模块，用于存储机台和原物料的特征信息，所述特征信息包括机台名称、原物料料号、原物料批号、原物料过期时间、原物料更换时间、原物料更换后的初始总量和机台参数对应的原物料使用量；

获取模块，用于实时获取所述机台在更换所述原物料后使用的机台参数，所述机台参数与所述原物料对应，并获取所述机台参数对应的过货数量；以及

计算模块，用于根据所述过货数量和所述机台参数对应的原物料使用量计算出所述机台上所述原物料的消耗量，并对所述原物料更换后的初始总量和所述消耗量求差以获得所述机台上所述原物料的剩余量。

可选的，所述获取模块获取所述机台在两个所述原物料更换时间之间所述原物料对应的过货数量；所述计算模块计算所述机台在两个所述原物料更换时间之间所述原物料的实际使用总量，并计算出所述机台上所述原物料的单位用量m1，m1＝M1/n1，其中，M1为所述原物料在两个原物料更换时间之间的实际使用总量，n1为两个所述原物料更换时间之间所述原物料对应的过货数量。

可选的，所述机台在两个原物料更换时间之间所述原物料的实际使用总量M1＝A*x1，其中，A为所述原物料更换后的初始总量，x1为两个所述原物料更换时间内所述原物料的更换次数。

可选的，所述物料管控系统用于对多台机台上的多种原物料进行监控；所述物料管控系统利用数据统计分析系统监控多台机台同一原物料的单位用量，以找出原物料单位用量的数值离群的异常机台，并进行报警。

可选的，所述机台参数对应的原物料使用量的初始值由工程人员设定；在所述机台的原物料更换设定次数后，所述物料管控系统用所述原物料的单位用量替换所述机台参数对应的原物料使用量的初始值。