[发明专利]一种电压幅值探测的方法、探测系统及装置

说明书

本发明提供的一种电压幅值探测的方法、探测系统及装置，该方法主要包括以下步骤：根据第一输入信号以及第一基准电压进行比较，并根据比较结果确定第一输入信号的正峰值；根据第一输入信号以及第二基准电压进行比较，并根据比较结果确定第一输入信号的负峰值；方案为更为简单地实现现有射频测试中待测引脚处电压幅度的采集，基于二极管通过步进式比较获得扰动电压幅值，可通过调控输入直流信号，实现不依赖于示波器等波形测量仪器的针对周期性干扰的电压幅值检测，具有高性价比，且相比传统的峰值检测电路适用频率范围更高，可广泛应用于电磁干扰技术领域。

技术领域

本发明涉及电磁干扰技术领域，尤其是一种电压幅值探测的方法、探测系统及装置。

背景技术

为提高电子产品的电磁干扰抗扰度，在相关技术中，电磁兼容测试是设计中的必要环节。如图1所示，在射频功率直接注入法(DPI)测试中，通过射频信号发生器及射频功率放大器将干扰信号注入待测芯片引脚，同时记录到达产品观察点处的电压扰动数值，整合数据获得其抗扰度。为测量芯片上待测引脚处的电压幅度，通常会采用示波器等测量设备与引脚接触，对完整的波形进行采样实现数值采样统计。

而在相关技术方案中，利用DPI法进行抗扰度测试时，存在以下缺点：1)当晶片被包含在封装内部，示波器探头无法直接接触晶体管的电极，无法实现对引脚处电压幅度进行探测；2)以示波器为主的常见测量仪器属于较为昂贵的设备，这类仪器费用高且具有一定体积，会占据相当的实验桌面积，需要进行一定的仪器培训才能掌握操作。

发明内容

有鉴于此，为至少部分解决上述技术问题，本发明实施例的目的在于提供一种针对周期性扰动的电压幅值探测的方法，以及能够实现该探测方法的探测系统及装置。

为此，本申请技术方案提供了一种电压幅值探测的方法，包括以下步骤：

获取受扰电压得到第一输入信号，获取现场可编程逻辑门阵列产生的第一基准电压和第二基准电压；

将所述第一输入信号与所述第一基准电压输入至正峰值检测模块中的第一二极管模块进行比较，输出比较结果得到第一电压值；

将所述第一基准电压输入至正峰值检测模块中的第二二极管模块，输出得到第二电压值；

将所述第一输入信号与所述第二基准电压输入至负峰值检测模块中的第三二极管模块进行比较，输出比较结果得到第三电压值；

将所述第二基准电压输入至负峰值检测模块中的第四二极管模块，输出得到第四电压值；

将所述第一电压值与所述第二电压值进行二次比较输出得到第一直流信号，根据所述第一直流信号确定第一输入信号的正峰值；

将所述第三电压值与所述第四电压值进行二次比较输出得到第二直流信号，根据所述第二直流信号确定第一输入信号的负峰值。

在本申请方案的一种可行的实施例中，所述第一输入信号包括中心电压以及待测幅度部分；所述中心电压和所述待测幅度部分满足如下计算式：

V_in＝V_DC+AMPsin(2πft)

其中，V_in为所述输入信号，V_DC为所述中心电压，所述AMP为待测幅度，f为频率，t为时间。

在本申请方案的一种可行的实施例中，所述第一基准电压从电压峰值向所述中心电压逼近，所述第二基准电压从电压谷值想所述中心电压逼近。

在本申请方案的一种可行的实施例中，所述方法还包括以下步骤：

将所述第一直流信号输出至第一LED灯，通过所述第一LED灯对所述第一输入信号的正峰值进行可视化表征；