[发明专利]空间位置关系的测量方法、装置及电子设备

说明书

本申请提出了一种空间位置关系的测量方法、装置及电子设备，涉及大数据技术领域，其中，方法包括：获取面数据列表，其中，面数据列表中包括：至少两个面形状的面数据；针对每个面数据，确定与面数据对应的区块数量，以及区块数量下面数据对应的区块编码列表；根据至少两个面数据对应的区块编码列表，确定至少两个面数据之间的数据比对关系；根据至少两个面数据以及数据比对关系，确定至少两个面形状之间的空间位置关系，从而避免对不相关的，即没有数据比对关系的两个面数据进行比对，减少比对次数，降低计算复杂度，提高计算效率。

技术领域

本申请涉及大数据技术领域，具体涉及地理数据信息技术领域，尤其涉及一种空间位置关系的测量方法、装置及电子设备。

背景技术

相关技术中，在空间数据的应用场景中，需要先对空间数据进行治理，通过比较空间数据之间的位置关系，比如两个建筑物轮廓形状是否存在重叠关系，获取治理后的空间数据，由于位置关系比较的计算是空间数据的两两计算，在计算的空间数据量较大时，计算复杂度较大，计算性能差，效率低。

发明内容

本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述技术问题之一。

为此，本申请提出了一种空间位置关系的测量方法、装置及电子设备，通过获取面数据列表，确定与面数据对应的区块数量及区块数量下面数据对应的区块编码列表，进一步确定至少两个面数据之间的数据对比关系，根据数据比对关系确定需要比对的面数据，进而进行比对处理确定至少两个面形状之间的空间位置关系，从而避免对不相关的，即没有数据比对关系的两个面数据进行比对，减少比对次数，从而降低计算复杂度，提高计算效率。

本申请第一方面实施例提出了一种空间位置关系的测量方法，包括：获取面数据列表，其中，所述面数据列表中包括：至少两个面形状的面数据；针对每个所述面数据，确定与所述面数据对应的区块数量，以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表；根据至少两个所述面数据对应的区块编码列表，确定至少两个所述面数据之间的数据比对关系；根据至少两个所述面数据以及所述数据比对关系，确定至少两个所述面形状之间的空间位置关系。

可选地，所述针对每个所述面数据，确定与所述面数据对应的区块数量，以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表，包括：针对每个所述面数据，依次按照区块编码长度列表中各区块编码长度，确定各区块编码长度下所述面数据对应的候选区块编码列表；从至少一个所述候选区块编码列表的候选区块数量中选择满足区块约束条件的候选区块数量；从满足区块约束条件的候选区块数量对应的至少一个候选区块编码列表中，选择其中候选区块编码长度最长的候选区块编码列表，作为所述面数据对应的区块编码列表。

可选地，所述针对每个所述面数据，确定与所述面数据对应的区块数量，以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表，包括：确定区块编码长度列表，其中，所述区块编码长度列表中的各个区块编码长度升序排列；针对每个所述面数据，依次针对所述区块编码长度列表中的每个区块编码长度，按照所述区块编码长度，确定所述面数据对应的候选区块编码列表；在所述候选区块编码列表的候选区块数量不满足区块约束条件时，获取所述区块编码长度列表中的下一个区块编码长度，直至确定得到的候选区块编码列表的候选区块数量满足所述区块约束条件；从满足所述区块约束条件的候选区块数量对应的至少一个候选区块编码列表中，选择其中候选区块编码长度最长的候选区块编码列表，作为所述面数据对应的区块编码列表。

可选地，所述区块约束条件为，所述候选区块数量大于第一数量阈值，且所述候选区块数量小于第二数量阈值。

可选地，所述区块约束条件包括：第一约束条件和第二约束条件；其中，所述第一约束条件为，所述候选区块数量大于第一数量阈值，且所述候选区块数量小于第二数量阈值；所述第二约束条件为，从满足所述第一约束条件的至少一个候选区块数量中取最大数量。