[发明专利]空间位置关系的测量方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202210333934.1 申请日: 2022-03-30
公开(公告)号: CN114741616A 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 徐鹏飞;周轶凡 申请(专利权)人: 杭州数梦工场科技有限公司
主分类号: G06F16/9537 分类号: G06F16/9537;G06F16/901
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 单冠飞
地址: 310024 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 空间 位置 关系 测量方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种空间位置关系的测量方法,其特征在于,包括:

获取面数据列表,其中,所述面数据列表中包括:至少两个面形状的面数据;

针对每个所述面数据,确定与所述面数据对应的区块数量,以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表;

根据至少两个所述面数据对应的区块编码列表,确定至少两个所述面数据之间的数据比对关系;

根据至少两个所述面数据以及所述数据比对关系,确定至少两个所述面形状之间的空间位置关系。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对每个所述面数据,确定与所述面数据对应的区块数量,以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表,包括:

针对每个所述面数据,依次按照区块编码长度列表中各区块编码长度,确定各区块编码长度下所述面数据对应的候选区块编码列表;

从至少一个所述候选区块编码列表的候选区块数量中选择满足区块约束条件的候选区块数量;

从满足区块约束条件的候选区块数量对应的至少一个候选区块编码列表中,选择其中候选区块编码长度最长的候选区块编码列表,作为所述面数据对应的区块编码列表。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对每个所述面数据,确定与所述面数据对应的区块数量,以及所述区块数量下所述面数据对应的区块编码列表,包括:

确定区块编码长度列表,其中,所述区块编码长度列表中的各个区块编码长度升序排列;

针对每个所述面数据,依次针对所述区块编码长度列表中的每个区块编码长度,按照所述区块编码长度,确定所述面数据对应的候选区块编码列表;

在所述候选区块编码列表的候选区块数量不满足区块约束条件时,获取所述区块编码长度列表中的下一个区块编码长度,直至确定得到的候选区块编码列表的候选区块数量满足所述区块约束条件;

从满足所述区块约束条件的候选区块数量对应的至少一个候选区块编码列表中,选择其中候选区块编码长度最长的候选区块编码列表,作为所述面数据对应的区块编码列表。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述区块约束条件为,所述候选区块数量大于第一数量阈值,且所述候选区块数量小于第二数量阈值。

5.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述区块约束条件包括:第一约束条件和第二约束条件;

其中,所述第一约束条件为,所述候选区块数量大于第一数量阈值,且所述候选区块数量小于第二数量阈值;

所述第二约束条件为,从满足所述第一约束条件的至少一个候选区块数量中取最大数量。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据至少两个所述面数据对应的区块编码列表,确定至少两个所述面数据之间的数据比对关系,包括:

对至少两个所述面数据对应的区块编码列表进行整合去重处理,得到全量区块编码列表;

根据所述全量区块编码列表以及至少两个所述面数据对应的区块编码列表,确定至少两个所述面数据之间的数据比对关系。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述全量区块编码列表以及至少两个所述面数据对应的区块编码列表,确定至少两个所述面数据之间的数据比对关系,包括:

针对所述全量区块编码列表中的每个待处理区块编码,获取所述待处理区块编码对应的第一区块编码,其中,所述第一区块编码为所述待处理区块编码的前缀;

根据所述待处理区块编码以及所述第一区块编码,确定面数据集合,其中,所述面数据集合中的面数据对应的区块编码列表中包括所述待处理区块编码或者所述第一区块编码;

确定所述面数据集合中任意两个面数据之间存在数据比对关系。

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