[发明专利]用于调准激光扫描荧光显微镜的方法和具有自动调准设备的激光扫描荧光显微镜

权利要求书

1.一种用于调节激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准的方法，在所述正确调准中，激励光(6)的最大强度(1)和荧光阻止光(7)的最小强度(4)在镜头(20)的焦点中重合，其中，以所述激励光(6)的最大强度(1)扫描样品(22)中的以荧光着色剂标记的结构，以便产生所述样品(22)的图像(A、B)，所述图像具有所述结构的影像(3，30，31，32)，其中，所产生的图像相应于所述荧光阻止光(7)的不同强度，其中，计算在所产生的图像中所述结构的影像(3，30，31，32)的位置之间的错位(8)，其特征在于，为了调节所述激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准，使所述激励光(6)的最大强度(1)相对于所述荧光阻止光(7)的最小强度(4)在所述错位(8)的方向上移位，在相应于所述荧光阻止光(7)的较高强度的图像中所述结构的影像(30)相对于在相应于所述荧光阻止光(7)的较低强度的另一图像中所述结构的影像(3)具有所述错位。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，非共焦地探测相应于所述荧光阻止光(7)的较高强度的所述图像和相应于所述荧光阻止光(7)的较低强度的所述另一图像。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，为了调节所述激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准，使布置在所述激光扫描荧光显微镜(15)的荧光探测器(18)前的光阑(2)的成像相对于所述荧光阻止光(7)的最小强度(4)在错位(8)的方向上移位，其中，所述成像在所述正确调准的情况下与所述激励光(6)的最大强度(1)和所述荧光阻止光(7)的最小强度(4)在所述镜头(20)的焦点中重合，其中，在相应于所述荧光阻止光(7)的较高强度的图像中所述结构的影像(32)相对于在相应于所述荧光阻止光(7)的较低强度的另一图像中所述结构的影像(31)具有所述错位。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，使所述激励光(6)的最大强度(1)或所述光阑(2)的成像(5)移位以下程度：所述程度相应于F倍的错位(8)，其中，F大于或等于1，其中，F是所述荧光阻止光(7)的不同强度的函数，所述图像和所述另一图像相应于所述不同强度。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，以所述激励光(6)的最大强度(1)重复地扫描所述样品(22)中的以所述荧光着色剂标记的结构，其中，逐图像地改变所述荧光阻止光(7)的强度，以便产生所述样品(22)的图像，所述图像相应于所述荧光阻止光(7)的不同强度。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，一次以所述激励光(6)的最大强度(1)扫描所述样品(22)中的以所述荧光着色剂标记的结构，其中，产生原始图像，在所述原始图像中所述样品(22)的两个图像叠加，所述两个图像能够分配给所述荧光阻止光(7)的不同强度，其方式是：借助所述激光扫描荧光显微镜(15)的荧光探测器(18)对于以下时间段记录所述样品(22)的荧光(19)：所述时间段处在所述荧光阻止光(7)起作用前和/或所述荧光阻止光(7)起作用后，其中，由所述原始图像求取两个叠加的图像。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在使用所述错位(8)的情况下，在所述镜头(20)的焦点中相对于所述激励光(6)的最大强度(1)和所述荧光阻止光(7)的最小强度(4)将另一荧光阻止光(7)的另一最小强度(4)调节到正确调准。

8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述样品(22)中的以所述荧光着色剂标记的结构具有发荧光的纳米颗粒。

9.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在计算出所述图像之间的互相关性的情况下计算在所述图像中所述结构的影像(3，30，31，32)的位置之间的所述错位(8)。

10.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，局部地计算和补偿在所述图像中所述结构的影像(3，30，31，32)的位置之间的所述错位(8)。