[发明专利]多模态光学成像系统

权利要求书

1.一种多模态光学成像系统，其特征在于，包括：

光源器件、第一分光器件、第一分束器件、第一合束器件、光学检测模块、光路干涉器件、干涉信号接收器件、第一合束器件、光学检测模块、波长选择器件、高分辨荧光信号接收器件和共聚焦信号接收器件；

所述光源器件，用于发出第一路光源、第二路光源和第三路光源；

所述第一分光器件，设置于第一路光源之后，用于对所述第一路光源进行分光得到参考光和探测光；

所述第一分束器件，用于将所述探测光导引至所述第一合束器件；

所述第二路光源，用于作为损耗光射入所述第一合束器件；

所述第一合束器件，用于对所述损耗光和所述探测光进行合束，并将合束后的损耗光和探测光射入所述光学检测模块的第一光路通道；

所述第三路光源中的一部分光作为激发光，另一部分光作为共聚焦光，射入所述光学检测模块的第二光路通道；

所述光学检测模块，用于基于所述激发光、所述损耗光对预设的探测样本进行探测，得到高分辨荧光信号，基于所述共聚焦光，对预设的探测样本进行激光扫描，得到激光扫描信号，将所述高分辨荧光信号和所述激光扫描信号射向所述波长选择器件；

所述波长选择器件，用于接收所述激光扫描信号和所述高分辨荧光信号并将所述激光扫描信号和所述高分辨荧光信号分离为两个光路；

所述高分辨荧光信号接收器件，用于获取所述高分辨荧光信号，以完成受激发射损耗显微成像；

所述共聚焦信号接收器件，用于获取激光扫描信号，以完成激光扫描共聚焦显微成像；

所述光学检测模块，还用于基于所述探测光对预设的探测样本进行探测，并将完成探测的探测光，通过所述第一光路通道，射向所述第一合束器件；

所述第一合束器件，还用于将所述完成探测的探测光导引至所述第一分光器件；

所述第一分光器件，还用于将所述完成探测的探测光导引至所述光路干涉器件；

所述光路干涉器件，用于接收参考光和探测光并使得参考光和探测光发生干涉，得到干涉信号；

所述干涉信号接收器件，用于采集所述干涉信号，以完成光学相干断层扫描成像。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，光源器件包括：第一发光器件、第二发光器件、第二分光器、调制器件、第三发光器件、共聚焦模块和第二合束器件；

所述第一发光器件，用于发出符合第一预设参数的光作为第一路光源；

所述第二发光器件，用于发出符合第二预设参数的光；

所述第二分光器，用于对所述第二发光器件发出的光进行分光，得到两个光路；所述两个光路中一个光路为激发光，另一个光路经过调制器件、得到第二路光源；

所述第三发光器件，用于符合第三预设参数的光作为共聚焦光；

所述第二合束器件，用于对所述第三发光器件发出的共聚焦光和所述第二分光器分出的激发光进行合束，并令合束后的光穿过所述共聚焦模块得到第三路光源。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，光源器件包括：第一发光器件、第二发光器件、第二分光器、调制器件、第三分光器和第二合束器件；

所述第一发光器件，用于发出符合第一预设参数的光作为第一路光源；

所述第二发光器件，用于发出符合第四预设参数的光；

所述第二分光器，用于对所述第二发光器件发出的光进行分光，得到两个光路；所述两个光路中一个光路经过所述调制器件得到第二路光源，另一个光路为剩余光；

所述第三分光器，用于对所述剩余光进行分光并对分出的光进行调整，得到激发光和共聚焦光；

所述第二合束器件，用于对所述第三分光器分光得到激发光和共聚焦光进行合束，得到第三路光源。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述第三分光器包括：耦合光纤、色散光纤和选波器件；

所述耦合光纤，用于对所述剩余光进行分光，得到激发光和待调节的共聚焦光；

所述色散光纤，用于对展宽所述待调节的共聚焦光的脉冲，得到待选波的共聚焦光；

所述选波器件，用于对所述待选波的共聚焦光进行选波，得到共聚焦光。