[发明专利]用于支持磁共振设备的匀场的设备和方法

权利要求书

1.一种磁共振设备(10)，所述磁共振设备(10)包括至少一个传感器(23)，

其特征在于，

所述磁共振设备能够在检查室中定位，并且所述至少一个传感器(23)构成用于求取所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的空间位置。

2.根据权利要求1所述的磁共振设备(10)，所述磁共振设备(10)还具有定位设备(11)，其中所述定位设备(11)构成用于改变所述磁共振设备(10)的空间位置，

其中改变所述磁共振设备(10)的空间位置包括使所述磁共振设备(10)沿着至少一个自由度、至少两个自由度、至少三个自由度或沿着至少四个自由度运动。

3.根据上述权利要求中任一项所述的磁共振设备(10)，

其中所述至少一个传感器(23)是光学传感器，并且其中所述光学传感器构成用于检测光学数据，所述光学数据包括对所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的所述空间位置的指示。

4.根据上述权利要求中任一项所述的磁共振设备(10)，

其中所述至少一个传感器(23)设计为位置编码器，并且其中所述位置编码器构成用于检测位置数据，所述位置数据包括对所述磁共振设备(10)的位置变化和/或角度变化的指示。

5.根据上述权利要求中任一项所述的磁共振设备(10)，所述磁共振设备(10)还包括至少一个匀场元件，所述至少一个匀场元件构成用于，根据匀场参数来调整所述磁共振设备(10)的磁场，其中所述至少一个匀场元件设计为：

·匀场线圈，

·具有铁磁材料的匀场薄片，和/或

·铁磁流体。

6.一种用于支持根据上述权利要求中任一项所述的磁共振设备(10)的匀场参数的调整的方法，所述方法具有如下步骤：

·借助于至少一个传感器(23)来求取(S4)所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的当前空间位置，以及

·根据所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的所述当前空间位置和磁场数据库的信息来调整(S6)所述磁共振设备(10)的至少一个匀场元件的匀场参数，其中所述磁场数据库包括关于所述磁共振设备(10)的空间位置的信息和与所述空间位置相关联的磁场数据。

7.根据权利要求6所述的方法，所述方法还具有如下步骤：

·将所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的空间位置中定向(S1)，

·检测(S2)在所定向的空间位置中的所述磁共振设备(10)的磁场的磁场数据，

·将关于所述磁共振设备(10)的所定向的空间位置的信息与所检测的磁场数据一起存储(S3)在所述磁场数据库中。

8.根据权利要求7所述的方法，

其中对于所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)中的多个空间位置重复所述磁共振设备(10)的定向(S1)和所述磁场数据的检测(S2)。

9.根据权利要求8所述的方法，

其中所述磁共振设备(10)的定向(S1)根据预先确定的网格来进行，并且其中所述预先确定的网格具有限定所述磁共振设备(10)在所述检查室(12)内的允许的空间位置的多个点(31)。

10.根据权利要求8或9中任一项所述的方法，所述方法还具有如下步骤：

·与根据所述磁场数据库分析至少一个空间位置的磁场的均匀性相关地，确定(S7)所述磁共振设备的至少一个另外的空间位置，并且对于所述至少一个另外的空间位置执行步骤S1、S2和S3。