[发明专利]NVME SSD中止设备自检功能的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.NVME SSD中止设备自检功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取测试命令；

判断测试命令是否为短期设备自检命令；

若测试命令是短期设备自检命令，则执行测试并实时收集短期设备测试日志；

解析短期设备测试日志，以获得短期设备解析结果；

根据短期设备解析结果判断短期设备自检是否正在进行；

若短期设备自检正在进行，则获取中止短期设备自检命令；

判断短期设备自检是否已中止；

若已中止，则短期设备自检功能测试完成；

若测试命令不是短期设备自检命令，则测试命令是扩展设备自检命令，执行测试并实时收集扩展设备测试日志；

解析扩展设备测试日志，以获得扩展设备解析结果；

根据扩展设备解析结果判断扩展设备自检是否正在进行；

若扩展设备自检正在进行，则获取中止扩展设备自检命令；

判断扩展设备自检是否已中止；

若已中止，则扩展设备自检功能测试完成。

2.根据权利要求1所述的NVME SSD中止设备自检功能的测试方法，其特征在于，所述根据短期设备解析结果判断短期设备自检是否正在进行步骤中，若短期设备解析结果中第一个byte值为1，则表示短期设备自检正在进行。

3.根据权利要求1所述的NVME SSD中止设备自检功能的测试方法，其特征在于，所述判断短期设备自检是否已中止步骤之前，还包括：执行中止短期设备自检命令并实时收集中止短期设备测试日志。

4.根据权利要求1所述的NVME SSD中止设备自检功能的测试方法，其特征在于，所述根据扩展设备解析结果判断扩展设备自检是否正在进行步骤中，若扩展设备解析结果中第一个byte值为2，则表示扩展设备自检正在进行。

5.NVME SSD中止设备自检功能的测试装置，其特征在于，包括：获取单元，第一判断单元，第一执行收集单元，第一解析单元，第二判断单元，第二获取单元，第三判断单元，第一完成单元，第二执行收集单元，第二解析单元，第四判断单元，第三获取单元，第五判断单元及第二完成单元；

所述获取单元，用于获取测试命令；

所述第一判断单元，用于判断测试命令是否为短期设备自检命令；

所述第一执行收集单元，用于若测试命令是短期设备自检命令，则执行测试并实时收集短期设备测试日志；

所述第一解析单元，用于解析短期设备测试日志，以获得短期设备解析结果；

所述第二判断单元，用于根据短期设备解析结果判断短期设备自检是否正在进行；

所述第二获取单元，用于若短期设备自检正在进行，则获取中止短期设备自检命令；

所述第三判断单元，用于判断短期设备自检是否已中止；

所述第一完成单元，用于若已中止，则短期设备自检功能测试完成；

所述第二执行收集单元，用于若测试命令不是短期设备自检命令，则测试命令是扩展设备自检命令，执行测试并实时收集扩展设备测试日志；

所述第二解析单元，用于解析扩展设备测试日志，以获得扩展设备解析结果；

所述第四判断单元，用于根据扩展设备解析结果判断扩展设备自检是否正在进行；

所述第三获取单元，用于若扩展设备自检正在进行，则获取中止扩展设备自检命令；

所述第五判断单元，用于判断扩展设备自检是否已中止；

所述第二完成单元，用于若已中止，则扩展设备自检功能测试成功。

6.根据权利要求5所述的NVME SSD中止设备自检功能的测试装置，其特征在于，所述第二判断单元中，若短期设备解析结果中第一个byte值为1，则表示短期设备自检正在进行。

7.根据权利要求5所述的NVME SSD中止设备自检功能的测试装置，其特征在于，还包括：第三执行收集单元，用于执行中止短期设备自检命令并实时收集中止短期设备测试日志。