[发明专利]一种筛选不受补体干扰的单克隆抗体对的方法

权利要求书

1.一种筛选不受补体干扰的单克隆抗体对的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S10：获得阴性样本混合物；

S20：在所述阴性样本混合物中加入抗原，获得检测样本一；

S30：对所述阴性样本混合物进行加热，并加入所述抗原，获得检测样本二；

S40：在所述检测样本二中加入补体C1q，获得检测样本三；

S50：用待选单克隆抗体对制备的化学发光试剂，对所述检测样本一、检测样本二和检测样本三分别进行免疫化学发光检测，获得检测结果一、检测结果二、检测结果三；

S60：根据所述检测结果一、所述检测结果二、所述检测结果三，获得所述不受补体干扰的单克隆抗体对。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S10包括以下步骤：

S11：获取阴性样本；

S12：测定所述阴性样本的C1q含量，获得检测结果；

S13：根据所述检测结果，将所述阴性样本进行分类，并获得所述阴性样本混合物。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述阴性样本进行分类，并获得阴性样本混合物包括以下步骤：

S14：将C1q含量大于220μg/mL的所述阴性样本混合标记为高补体阴性样本混合物，C1q大于170μg/mL且小于220μg/mL的所述阴性样本混合标记为中补体阴性样本混合物，C1q小于170μg/mL的所述阴性样本混合标记为低补体阴性样本混合物。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述阴性样本混合物进行加热，加热温度为50-55℃，加热时间为10-15min。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S60包括以下步骤：

S61：根据所述检测结果一、所述检测结果二、所述检测结果三，计算变化比例，在所述检测结果一和所述检测结果二的变化比例的差值小于10％，且所述检测结果二和所述检测结果三的变化比例的差值小于10％的情况下，所述待选单克隆抗体对不受所述补体影响；

S62：获得所述不受补体干扰的单克隆抗体对。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测样本一和所述检测样本二中的所述阴性样本混合物、所述抗原的添加量相同。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S40之前包括以下步骤：

S31：收集血清；

S32：纯化所述血清中的C1q，获得粗纯品；

S33：进一步纯化所述粗纯品，获得补体C1q。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述S40包括以下步骤：

S41：在所述检测样本二中加入所述补体C1q，获得所述检测样本三。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述免疫化学发光检测包括以下步骤：

S44：制备发光试剂；

S45；制备固相试剂；

S46：将所述发光试剂、所述固相试剂分别与所述检测样本一、所述检测样本二、所述检测样本三进行混合，利用化学发光免疫分析仪进行检测。

10.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测定所述阴性样本的C1q含量采用补体C1q诊断试剂盒。