[发明专利]一种配网终端可靠性预测方法及系统

说明书

本发明公开了一种配网终端可靠性预测方法及系统，获取预先基于配网终端的磁化因子、电极化因子、热应力因子和外部环境因子构建的配网终端元器件失效模型；获取计算得到的配网终端的电磁环境因子的数值；根据配网终端的电磁环境因子的数值以及配网终端元器件失效模型计算得到考虑电磁环境因子后的配网终端的总失效率；根据考虑电磁环境因子后的配网终端的总失效率计算配网终端的可靠性。优点：通过分析配网终端各类元器件的磁化因子、电极化因子、热应力因子和外部环境因子，搭建起配网终端元器件失效模型。根据考虑电磁环境因子后的配网终端的总失效率计算配网终端的可靠性与可靠寿命，确保了可靠性预测的准确性。

技术领域

本发明涉及一种配网终端可靠性预测方法及系统，属于配网终端技术领域。

背景技术

随着电网规模的日益扩大，设备结构也越来越复杂。配网位于电力系统的末端，设备繁多，连接及运行方式多样，影响因素众多，其在使用中极易出现失效或故障，甚至引发系统瘫痪。加强对终端的管理具有非常重要的意义，确保配网自动化终端安全运行是保证配电网供电可靠的必要条件，进行可靠性的预测必不可少。因此，拟设计一套应用瞬态电磁环境场景下的配网终端可靠性预测方法。

虽然电子元器件有着多样化的失效模式，但其中存在一定的规律性，因此提出失效模型在预测元器件的质量和可靠性上具有重要现实意义。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种配网终端可靠性预测方法及系统。

为解决上述技术问题，本发明提供一种配网终端可靠性预测方法，包括：

获取预先基于配网终端的磁化因子、电极化因子、热应力因子和外部环境因子构建的配网终端元器件失效模型；

获取计算得到的配网终端的电磁环境因子的数值；

根据配网终端的电磁环境因子的数值以及配网终端元器件失效模型计算得到考虑电磁环境因子后的配网终端的总失效率；

根据考虑电磁环境因子后的配网终端的总失效率计算配网终端的可靠性。

进一步的，所述配网终端元器件失效模型的构建过程，包括：

收集配网终端的数据信息，所述配网终端包括电源模块、采集模块、MCU模块、数据处理，通讯模块、保护模块对应的各类元器件；

根据收集的各类元器件，确定包含器件名称、型号、规格和工作应力的配网终端元器件信息清单；

通过配网终端元器件清单，确定各类元器件的元器件磁化因子、电极化因子、热应力因子和外部环境因子；

根据元器件磁化因子、电极化因子、热应力因子和外部环境因子建立配网终端元器件失效模型，包含数据如下：

λ_BB＝λ_Gπ_Mπ_Cπ_Hπ_E σ_BB＝σ_Gπ_Mπ_Cπ_Hπ_E (1)

其中，λ_BB为元器件稳态失效率，σ_BB为元器件稳态失效率标准差，λ_G为元器件通用稳态失效率，σ_G为元器件通用稳态失效率标准差，π_M为元器件的元器件磁化因子，π_C为元器件的元器件电极化因子，π_H为元器件的元器件热应力因子，π_E为元器件的元器件外部环境因子。

进一步的，利用所述配网终端元器件失效模型确定配网终端的电磁环境因子的数值，包括：