[发明专利]一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统

说明书

本发明公开了一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统，包括以下步骤：将半导体激光器与光开关连接，将主控芯片与光开关连接，光源由光开关切换的光路射出后，经环形器的调节后，经由准直器进入自由空间；然后依次通过由线偏振片、1/4波片组成的圆偏振片、待检光隔离器，最后经另一端的准直器耦合进入光纤；通过待检光隔离器的光信号经环形器的调节被传感器捕获并经由放大电路对信号进行处理；处理完成的信号被传输至主控芯片进行AD转换与滤波处理，并进行逻辑判断，由STM32连接的上位机对待检光隔离器检测数据进行统计并保存，完成对光隔离器的自动检测、分拣以及记录；本发明可以在兼顾成本与测量精度的前提下，进一步地提升测量效率。

技术领域

本发明涉及光无源器件的生产制造技术领域，特别是一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统。

背景技术

光隔离器广泛应用于光纤放大器、光纤激光器、光纤CATV网以及卫星通讯等，在市场上长期处于供不应求的地位。自八十年代以来，光隔离器的研究一直被发达国家列为重点，随着我国经济的不断发展、人们生活水平的不断提高，人们的消费观念和消费水平也有了很大的转变与提升，同时，我国高速增长的经济为光隔离器行业提供了广阔的市场空间，在这个契机下，我国的光隔离器行业也得到了快速发展。但是，在行业内企业数量的增加，业内竞争逐渐加剧的同时，依靠于人工检测光隔离器性能指标的生产方式很大程度上限制了生产厂商的发展。国内大多企业采用的人工检测隔离器品质需要逐个放置、拨动隔离器，调整准直器位置，用放大镜肉眼检测再逐个分拣，整个过程重复、枯燥、耗时较长，且工人的肉眼具有不稳定性，无法保证检测的正确率，这种传统的方式极大地降低了生产效率且成本较高。

发明内容

为了克服上述不足，本发明的目的在于提供一种测量速度快、测量精度高的基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统，能够帮助光隔离器生产厂家以更低的成本实现更快捷、精确的检测。

为达到上述目的，本发明是按照以下技术方案实施的：

一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统，包括以下步骤：

步骤1：将半导体激光器的出光口与光开关的P1口进行连接，并调整半导体激光器的功率到合适大小，将主控芯片的I/O与光开关进行连接，实现开关量对光路切换的控制；

步骤2：光源由光开关切换的光路射出后，再经环形器的调节，最后经由准直器进入自由空间；

步骤3：进入自由空间中的光，依次通过由线偏振片、1/4波片组成的圆偏振片、待检光隔离器，最后经另一端的准直器耦合进入光纤；

步骤4：通过待检光隔离器的光信号经环形器的调节被传感器捕获并经由放大电路对信号进行处理；

步骤5：处理完成的信号被传输至主控芯片进行AD转换与滤波处理，并进行逻辑判断，至此完成正向光路的插入损耗测量；

步骤6：由主控控制光开关对光路进行切换，重复上述流程以完成反向光路的隔离度测量并进行逻辑判断；

步骤7：由STM32连接的上位机对此批次的待检光隔离器检测数据进行统计并保存，完成对光隔离器的自动检测、分拣以及记录；

进一步地，步骤1中将半导体激光器的出光口与光开关的P1口进行连接，并调整半导体激光器的功率到合适大小，将主控芯片的I/O与光开关进行连接，实现开关量对光路切换的控制，具体过程为：

考虑到光路中环形器、线偏振片、1/4波片等光无源器件与空气中杂质的损耗，将输出功率调节至500uw左右；

将激光器出光口连接光开关，并将型号为FY-1XN的电控光开关的与主控芯片相应I/O连接，由其控制工作状态，即可通过预设程序与检测结果的判断对光路状态进行切换；