[发明专利]转换器芯片测试电路及系统

说明书

本申请涉及一种转换器芯片测试电路及系统。转换器芯片测试电路中，逻辑控制单元用于在接收到上位机发送的数字波形测试数据之后，将数字波形测试数据发送给数模转换电路，数模转换电路用于将数字波形测试数据转换为模拟波形测试数据，并将模拟波形测试数据发送给信号调理电路，信号调理电路用于在对模拟波形测试数据进行信噪比提升之后，将模拟波形测试数据发送给目标待测芯片，以供目标待测芯片将模拟波形测试数据转换为数字波形测试反馈数据，并发送给上位机，上位机用于根据数字波形测试数据和数字波形测试反馈数据，获得目标待测芯片的测试结果。本申请实施例提供的转换器芯片测试电路及系统能够保证目标待测芯片的测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及集成电路自动化测试领域，具体而言，涉及一种转换器芯片测试电路及系统。

背景技术

在集成电路自动化测试领域，对芯片进行模数转换(ADC)测试，是芯片质检过程中的重要测试内容，测试使用的信号源是测试系统的重要组成部分，对保证测试结果的准确性有着重要意义。然而，现有技术中，信号源所能够提供的测试信号质量却较为一般。在测试信号质量无法保证的情况下，将会直接影响测试结果的准确性。

发明内容

本申请的目的在于，提供一种转换器芯片测试电路及系统，用于提供具有高精度高带宽的任意形式的高质量的测试信号，以解决上述问题。

本申请实施例提供的转换器芯片测试电路包括逻辑控制单元、数模转换电路和信号调理电路，数模转换电路分别与逻辑控制单元和信号调理电路连接；

逻辑控制单元用于在接收到上位机发送的数字波形测试数据之后，将数字波形测试数据发送给数模转换电路；

数模转换电路用于将数字波形测试数据转换为模拟波形测试数据，并将模拟波形测试数据发送给信号调理电路；

信号调理电路用于在对模拟波形测试数据进行信噪比提升之后，将模拟波形测试数据发送给目标待测芯片，以供目标待测芯片将模拟波形测试数据转换为数字波形测试反馈数据，并发送给上位机，上位机用于根据数字波形测试数据和数字波形测试反馈数据，获得目标待测芯片的测试结果。

在通过本申请实施例提供的转换器芯片测试电路测试目标待测芯片的过程中，逻辑控制单元用于在接收到上位机发送的数字波形测试数据之后，将数字波形测试数据发送给数模转换电路，数模转换电路用于将数字波形测试数据转换为模拟波形测试数据，并将模拟波形测试数据发送给信号调理电路，由于信号调理电路用于在对模拟波形测试数据进行信噪比提升之后，再将模拟波形测试数据发送给目标待测芯片，因此，能够保证模拟波形测试数据的信号质量，那么，后续目标待测芯片将模拟波形测试数据转换为数字波形测试反馈数据，并发送给上位机，且上位机通过将数字波形测试数据与数字波形测试反馈数据进行比较，分析二者之间的差异，获得目标待测芯片的测试结果之后，便能够保证测试结果的准确性。

结合第一方面，本申请实施例还提供了第一方面的第一种可选的实施方式，转换器芯片测试电路还包括数据存储器，数据存储器与逻辑控制单元连接；

逻辑控制单元用于在接收到上位机发送的数字波形测试数据之后，将数字波形测试数据存储于数据存储器，并在接收到上位机发送的起始测试信号之后，从数据存储器中获取数字波形测试数据，并将数字波形测试数据发送给数模转换电路，起始测试信号中携带有数字波形测试数据的标识信息。

在上述实施方式中，转换器芯片测试电路还包括数据存储器，数据存储器与逻辑控制单元连接，如此，上位机便可以先发送多条数字波形测试数据，并存储于数据存储器，此后，逻辑控制单元在每接收到一条起始测试信号时，从起始测试信号中提取标识信息，再从数据存储器中获取标识信息所指的数字波形测试数据，并将数字波形测试数据发送给数模转换电路，从而将数字波形测试数据的存储和后续测试进行阶段性划分，以降低测试系统的操作复杂程度，提高测试信号的产生效率。