[发明专利]一种真空大功率低PIM射频连接器有效

专利信息
申请号: 202210233681.0 申请日: 2022-03-10
公开(公告)号: CN114678717B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 童利君;孙永生;李翔;蔡立兵;谢乾 申请(专利权)人: 中国航天时代电子有限公司
主分类号: H01R13/40 分类号: H01R13/40;H01R13/533;H01R13/02;H05K7/20
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 贾文婷
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 真空 大功率 pim 射频 连接器
【说明书】:

本申请涉及连接器的技术领域,具体公开了一种真空大功率低PIM射频连接器,包括壳体,壳体内部中空;绝缘子Ⅰ、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ,位于壳体内且沿着壳体轴线依次设置;插孔,穿过绝缘子Ⅰ、散热片、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ,两端用于与公头电气互联;连接件Ⅰ和连接件Ⅱ,设置于壳体的两端,用于将绝缘子Ⅰ、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ固定在壳体内,且与公头配合连接;插孔的周向开设有环形的凹陷台阶,绝缘子Ⅱ卡设于凹陷台阶,绝缘子Ⅱ的两个端面开设有环槽,绝缘子Ⅰ和绝缘子Ⅲ抵接于绝缘子Ⅱ的端面与环槽相适配。提高了连接器在真空环境下耐高功率抑制放电的能力,同时抑制高电平无源互调效应的产生。

技术领域

本申请涉及连接器的技术领域,特别是一种真空大功率低PIM射频连接器。

背景技术

现有低PIM射频连接器,主要为三元合金传统绝缘支撑结构,连接器接触件采用了两瓣开槽结构,产品只可用于地面环境,功率耐受能力差,高功率下PIM抑制性能差,装配调试复杂,降低了整个产品的可靠性,不能满足空间环境等复杂情况下的使用要求。

发明内容

本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供了一种真空高功率耐受性能的低PIM射频连接器,克服产品在高低温环境下工作时性能的不稳定性,提高在真空环境下耐高功率抑制放电的能力,同时抑制高电平无源互调效应的产生。

本发明的技术解决方案是:

一种真空大功率低PIM射频连接器,包括壳体;

绝缘子Ⅰ、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ,位于壳体内且沿着壳体轴线依次设置;

插孔,穿过绝缘子Ⅰ、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ,两端用于与公头电器互联;

连接件Ⅰ和连接件Ⅱ,设置于壳体的两端,用于将绝缘子Ⅰ、绝缘子Ⅱ、绝缘子Ⅲ固定在壳体内,且与公头配合连接;

插孔的周向开设有环形的凹陷台阶,绝缘子Ⅱ卡设于凹陷台阶,绝缘子Ⅱ的两个端面开设有环槽,绝缘子Ⅰ和绝缘子Ⅲ抵接于绝缘子Ⅱ的端面与环槽相适配。

通过上述技术方案,绝缘子Ⅱ的剖面为两个“工”字形,这种结构分别与绝缘子Ⅰ及绝缘子Ⅲ配合时,有效增加了接触面积,既增加了大功率作业时连接器内外导体间的爬电距离,降低了真空大功率时的放电风险,又有利于大功率工作时抑制无源互调效应的产生。

具体的,所述插孔双端具有中心孔,中心孔为四瓣开槽弹性收口结构,待对接的公头低PIM射频连接器插针插入此中心孔中进行电气互联。

所述绝缘子Ⅱ开设有装配槽,装配槽沿着绝缘子Ⅱ的轴线方向贯穿绝缘子Ⅱ,装配槽从绝缘子Ⅱ的边缘贯穿绝缘子直径的四分之三至五分之四。

所述绝缘子Ⅱ与绝缘子Ⅱ的材质不同。

所述绝缘子Ⅰ和绝缘子Ⅲ的材料为聚四氟乙烯,绝缘子Ⅱ的材料为聚醚酰亚胺。

所述壳体内腔包括顺序布置的第一腔、第二腔、第五腔、第三腔和第四腔,第一腔、第二腔、第五腔的内径逐渐减小,第一腔和第四腔内径相等,第二腔和第三腔内径相等;第一腔、第二腔、第五腔、第三腔和第四腔的5个腔室中,相邻两个腔室之间依次形第一台阶、第二台阶、第三台阶及第四台阶;绝缘子Ⅱ的端面与第二台阶抵接;绝缘子Ⅰ位于绝缘子Ⅱ背离第二台阶的一端;绝缘子Ⅲ与第三台阶和绝缘子Ⅱ抵接。

所述壳体的外壁两端布置第一螺纹台阶以及第二螺纹台阶,用于与待对接的公头低PIM射频连接器配合连接。

所述环槽的外径小于第五腔的内径。

所述连接件Ⅰ为压套Ⅰ,连接件Ⅱ为压套Ⅱ,压套Ⅰ和压套Ⅱ的结构和尺寸相同,压套Ⅰ位于第一腔内且压套Ⅰ的端面抵接于第一台阶,压套Ⅰ与壳体过盈配合,压套Ⅱ位于第四腔内且压套Ⅱ的端面抵接于第四台阶,压套Ⅱ与壳体过盈配合。

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