[发明专利]一种基于涡旋光束OAM相位谱的方位角测量方法在审

专利信息
申请号: 202210207897.X 申请日: 2022-03-04
公开(公告)号: CN114674247A 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 任元;徐莉园;陈琳琳;刘通;刘政良;陈晓岑;王祎宁 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 陈超
地址: 101416*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 涡旋 光束 oam 相位 方位角 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于涡旋光束OAM相位谱的方位角测量方法,首先,通过空间光调制器调制分别产生不同轨道角动量的贝塞尔高斯光束;然后在一定OAM范围内对目标进行扫描,收集在不同轨道角动量下目标的散射光并计算散射光的螺旋相位其中l为拓扑荷数,为方位角;最后,对获得的OAM相位谱进行傅里叶变换,即可得到单一目标或者多目标的方位角。

2.根据权利要求1所述的基于涡旋光束OAM相位谱的方位角测量方法,其特征在于:通过计算OAM相位谱,实现了对目标方位角的分辨,其中OAM相位谱的测量方法为:通过空间光调制器产生贝塞尔高斯光束与平面光束同轴干涉的叠加光束去照射目标,分别将贝塞尔高斯光束与相移0,π/2,π,3π/2的平面光束进行干涉,接收四步相移对应目标散射光的四个光强,利用这些光强信息得到目标散射光的螺旋相位,不同轨道角动量下的螺旋相位构成了OAM相位谱。

3.根据权利要求1所述的基于涡旋光束OAM相位谱的方位角测量方法,其特征在于:方位角的分辨率与OAM的扫描范围成反比,OAM的扫描范围越大,分辨率越高,所得信号的信噪比越高。

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