[发明专利]图像模型隐蔽后门的检测方法及系统、存储介质、终端

权利要求书

1.一种图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，包括：

获取训练样本图像，并将每个所述训练样本图像分别转换为频谱图像；

对所述频谱图像进行目标检测得到目标图像，将所述目标图像从与其对应所述频谱图像上提取并作为待定频谱图像碎片；

分别统计每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数，并根据每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数确定嵌入所述频谱图像中的触发器图案；

基于所述触发器图案，确定所述触发器图案所在的频谱图像，以完成对带有所述触发器图案的后门样本图像的检测；

其中，根据每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数确定嵌入所述频谱图像中的触发器图案，包括：

计算每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数，判断其个数是否大于预设阈值，若大于所述预设阈值，则确定此所述待定频谱图像碎片为触发器图案。

2.根据权利要求1所述的图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，所述根据每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数确定嵌入所述频谱图像中的触发器图案，包括：

对所述待定频谱图像碎片进行特征提取，得到碎片特征；

分别统计每一相同的所述碎片特征的个数，并将个数高于第一预设阈值的所述碎片特征作为嵌入所述频谱图像中的触发器图案特征；

将带有所述触发器图案特征的所述待定频谱图像碎片作为所述触发器图案。

3.根据权利要求2所述的图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，所述分别统计每一相同的所述碎片特征的个数，并将个数高于第一预设阈值的所述碎片特征作为嵌入所述频谱图像中的触发器图案特征，包括：

基于所有所述待定频谱图像碎片的碎片特征，分别生成与每一所述碎片特征对应的特征向量；

分别统计每一相同的所述特征向量的个数，并对所述特征向量的个数与所述训练样本图像总数之比进行计算，获得计算结果；

若所述计算结果大于第二预设阈值，则将与所述计算结果对应的所述特征向量作为所述触发器图案特征向量；

将与所述触发器图案特征向量对应的碎片特征作为所述触发器图案特征。

4.根据权利要求3所述的图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，所述碎片特征包括碎片尺寸特征、碎片最大亮度特征、碎片最小亮度特征、以及碎片平均亮度特征；

所述基于所有所述待定频谱图像碎片的碎片特征，分别生成与每一所述碎片特征对应的特征向量，包括：

基于所述碎片尺寸特征、碎片最大亮度特征、碎片最小亮度特征、以及碎片平均亮度特征，生成每一所述待定频谱图像碎片对应的特征向量；

所述分别统计每一相同的所述特征向量的个数，并对所述特征向量的个数与所述训练样本图像总数之比进行计算，获得计算结果，包括：

对每一所述待定频谱图像碎片对应的特征向量进行分类并统计，获得每一相同的所述待定频谱图像碎片对应的特征向量的个数信息。

5.根据权利要求1所述的图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，所述分别统计每一相同的所述待定频谱图像碎片的个数，包括：

基于所有所述待定频谱图像碎片的尺寸信息，对所述待定频谱图像碎片进行分类处理；

获取每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中的每个像素点的亮度值；

对位于每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中相同位置的像素点的亮度值进行对比，以判断每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中的待定频谱图像碎片是否相同；

若对位于两个尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中相同位置的像素点的亮度值不完全相同，则判定为两个不相同的待定频谱图像碎片；

若对位于两个尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中相同位置的像素点的亮度值均完全相同，则判定为两个相同的待定频谱图像碎片。

6.根据权利要求5所述的图像模型隐蔽后门的检测方法，其特征在于，所述获取每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片中的每个像素点的亮度值，包括：

分别对每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片进行逐行逐列扫描，获取每一尺寸相同的所述待定频谱图像碎片上的每一像素点所在位置；

根据每一所述像素点所在位置，记录每一尺寸相同的所述待定频谱图像中的所有所述像素点分别所对应的亮度值。