[发明专利]一种粒子计数器的自检方法、系统、装置及介质

说明书

本申请公开了一种粒子计数器的自检方法、系统、装置及介质，主要涉及粒子计数领域。粒子计数器的自检系统包括光源、光电探测器、处理电路模块、ADC、DAC、处理器和计数模块；ADC用于将第一电压脉冲信号的模拟量转化为数字量；处理器用于根据数字量与预设的噪声阈值的噪声比较结果以及对计数模块发送的计数结果进行判断得到的计数比较结果判断粒子计数器是否合格。由于第一电压脉冲信号是在光源打开、粒子计数器中没有被检测的粒子时所得，因此表征的是未进行粒子计数时的噪声值输出，该自检系统通过第一电压脉冲信号检测粒子计数器的噪声，通过电压检测粒子计数器的处理第二电压脉冲信号的电路和计数模块，实现了粒子计数器的自检。

技术领域

本申请涉及粒子计数领域，特别是涉及一种粒子计数器的自检方法、系统、装置及介质。

背景技术

粒子计数器是测量空气粒子的粒径及其分布的专用仪器。在测量时，粒子计数器会对经过其测量腔带的粒子流体中的粒子进行粒径、数量测量，其对粒径的分辨以及粒子的计数都是基于粒子的散射光信号，散射光信号自光电探测器输出端经放大、转换、降噪等形成散射光信号对应的电压脉冲信号，而后输入比较器比较后进入对应的粒径的计数通道进行粒子计数，这些都有赖于粒子散射光信号的精确获取以及上述电路的有效运行。现有技术中通常利用光源如激光发射器提供光束，虽然激光的光束发射方向非直接入射光电探测器的接收表面，但是光束的发散角使得光束即使经过整形后在进入光陷阱之前依然不可避免的存在一些杂散光，杂散光入射光电探测器表面则形成影响粒子准确识别计数的噪声信号。随着设备的使用，设备的噪声信号、电路的转换效果不可避免的与粒子计数器的标定状态发生变化，因此，在粒子计数器每次运行前，对于粒子散射光信号以外的噪声信号大小的控制，以及获取粒子散射光信号后的信号降噪、放大以及计数过程的自检十分重要。

当前通过定期标定的方式标定粒子计数器，每次使用前对粒子计数器不做检测，无法保证每次使用时粒子计数器都处于正常状态。

由此可见，如何实现粒子计数器的自检是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种粒子计数器的自检方法、系统、装置及介质，用于实现粒子计数器的自检。

为解决上述技术问题，本申请提供一种粒子计数器的自检系统，包括：光源、光电探测器、处理电路模块、ADC、DAC、处理器和计数模块；

光电探测器，用于在光源打开时，将接收到的光信号转化为电流信号；

处理电路模块与光电探测器连接，用于对电流信号进行处理，得到第一电压脉冲信号；

ADC与处理电路模块连接，用于将第一电压脉冲信号的模拟量转化为数字量；

DAC与处理器和处理电路模块连接，用于在光源关闭时，将处理器发送的电路检测值信号转化为第二电压脉冲信号，并发送第二电压脉冲信号至处理电路模块；

计数模块与处理电路模块连接，用于将处理电路模块处理后的第二电压脉冲信号与处理器内预设的门槛电压进行比较得到电压比较结果，并根据电压比较结果进行计数；

处理器与ADC和计数模块连接，用于将数字量与预设的噪声阈值进行比较得到噪声比较结果，以及接收计数模块的计数结果并对计数结果进行判断得到计数比较结果，根据噪声比较结果和计数比较结果判断粒子计数器是否合格。

优选地，处理电路模块包括跨阻放大电路和降噪放大滤波电路；

跨阻放大电路与光电探测器和ADC连接，用于将电流信号放大转换为第一电压脉冲信号；

降噪放大滤波电路与DAC和计数模块连接，用于对DAC转化的第二电压脉冲信号进行降噪、放大和滤波。

优选地，计数模块包括多个比较器以及与各比较器对应连接的计数器；