[发明专利]一种粒子计数器的自检方法、系统、装置及介质

权利要求书

1.一种粒子计数器的自检系统，其特征在于，包括：光源、光电探测器、处理电路模块、ADC、DAC、处理器和计数模块；

所述光电探测器，用于在所述光源打开时，将接收到的光信号转化为电流信号；

所述处理电路模块与所述光电探测器连接，用于对所述电流信号进行处理，得到第一电压脉冲信号；

所述ADC与所述处理电路模块连接，用于将所述第一电压脉冲信号的模拟量转化为数字量；

所述DAC与所述处理器和所述处理电路模块连接，用于在所述光源关闭时，将所述处理器发送的电路检测值信号转化为第二电压脉冲信号，并发送所述第二电压脉冲信号至所述处理电路模块；

所述计数模块与所述处理电路模块连接，用于将所述处理电路模块处理后的所述第二电压脉冲信号与所述处理器内预设的门槛电压进行比较得到电压比较结果，并根据所述电压比较结果进行计数；

所述处理器与所述ADC和所述计数模块连接，用于将所述数字量与预设的噪声阈值进行比较得到噪声比较结果，以及接收所述计数模块的计数结果并对所述计数结果进行判断得到计数比较结果，根据所述噪声比较结果和所述计数比较结果判断所述粒子计数器是否合格。

2.根据权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，其特征在于，所述处理电路模块包括跨阻放大电路和降噪放大滤波电路；

所述跨阻放大电路与所述光电探测器和所述ADC连接，用于将所述电流信号放大转换为所述第一电压脉冲信号；

所述降噪放大滤波电路与所述DAC和所述计数模块连接，用于对所述DAC转化的所述第二电压脉冲信号进行降噪、放大和滤波。

3.根据权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，其特征在于，所述计数模块包括多个比较器以及与各所述比较器对应连接的计数器；

所述比较器与所述处理电路模块连接，用于接收所述处理电路模块处理后的所述第二电压脉冲信号，并与所述门槛电压进行比较得到所述电压比较结果；

所述计数器与所述处理器连接，用于根据所述电压比较结果进行计数，并将所述计数结果发送至所述处理器。

4.根据权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，其特征在于，所述处理器通过如下方式判断所述粒子计数器是否合格：

在所述数字量不大于所述噪声阈值且所述处理电路模块处理后的所述第二电压脉冲信号大于所述门槛电压，所述计数模块对所述第二电压脉冲信号进行计数时，确定所述粒子计数器合格。

5.根据权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，其特征在于，所述处理器还用于存储所述噪声阈值、设置所述门槛电压和所述电路检测值信号。

6.根据权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，其特征在于，还包括与所述处理器连接的显示模块，用于显示所述粒子计数器是否合格的结果。

7.一种粒子计数器的自检方法，其特征在于，应用于权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，所述方法包括：

将第一电压脉冲信号的数字量与预设的噪声阈值进行比较得到噪声比较结果；其中，所述数字量为ADC将处理电路模块根据光电探测器转化的电流信号得到的所述第一电压脉冲信号的模拟量进行转化得到；

接收计数模块的计数结果，并对所述计数结果进行判断得到计数比较结果；

根据所述噪声比较结果和所述计数比较结果判断所述粒子计数器是否合格。

8.一种粒子计数器的自检装置，其特征在于，应用于权利要求1所述的粒子计数器的自检系统，所述装置包括：

比较模块，用于将第一电压脉冲信号的数字量与预设的噪声阈值进行比较得到噪声比较结果；其中，所述数字量为ADC将处理电路模块根据光电探测器转化的电流信号得到的所述第一电压脉冲信号的模拟量进行转化得到；

接收模块，用于接收计数模块的计数结果，并对所述计数结果进行判断得到计数比较结果；

判断模块，用于根据所述噪声比较结果和所述计数比较结果判断所述粒子计数器是否合格。