[发明专利]电子配件测试处理器

说明书

本发明涉及一种电子配件测试处理器。具体地，根据本发明的一个实施例可以提供一种包括用以安置多个电子配件的第一托盘；包括沿x轴方向排列的多个拾取器，可以将安置于所述第一托盘的多个电子配件传送到第二托盘的传送手；通过拍摄所述多个拾取器来获取图像信息的拍摄单元；以及基于所述图像信息，当所述传送手被放置于所述第一托盘上的第一托盘位置时,获取作为所述多个拾取器各个的x轴坐标的第一拾取器x坐标的控制部的电子配件测试处理器。

技术领域

本发明是涉及一种电子配件测试处理器的发明。

背景技术

测试处理器(test handler)是支持对通过规定的制造工程制造的半导体器件等电子配件进行测试，并根据测试结果对电子配件进行等级分类的设备。这样的测试处理器可以通过将电子配件电连接到测试器(tester)来测试半导体器件等电子配件。

另一方面，电子配件为经过测试，在装载在客户托盘的状态下提供给测试处理器，此外，提供给测试处理器的电子配件由多个拾取器传送到摆渡台。多个拾取器在客户托盘中电子配件安置的空间之间的间隔与摆渡台中电子配件安置的空间之间的间隔不同。因此，在多个拾取器传送装载在客户托盘上的电子配件时，有必要根据摆渡台对电子配件之间的间隔进行调整。

但是，多个拾取器在组装过程中位置可能会发生偏差,并且可能会因错误组装而产生公差。另外,在控制缩小或扩大多个拾取器之间的间隔的过程中,由于无法精确地控制,可能会产生误差。像这样,多个拾取器之间的间隔控制会因各种原因而产生误差。在这种情况下,多个拾取器不能准确地把持电子配件,并且不能将所把持的电子配件安置于摆渡台的正确位置。因此,会发生电子配件从摆渡台脱离的问题,这会降低测试的准确性,也会造成电子配件的损坏。

因此，需要一种电子配件测试处理机，即便多个拾取器之间间隔发生误差，可以通过对其进行校正精确地把持电子配件，并可以将把持的电子配件安置于摆渡台的正确位置。

发明内容

本发明的一实施例是基于上述背景而发明的，予以提供一种电子配件测试处理器，即便在多个拾取器之间的间隔出现误差，可以通过对其进行校正来精准的把持，并可以将把持的电子配件安置于第一托盘的正确位置。

另外，本发明的一实施例要提供一种电子部件测试处理器，其通过将电子配件安置于正确位置来提高测试的准确性，并防止因电子配件的分离而损坏电子配件。

根据本发明的一方面，可以提供一种包括用以安置多个电子配件的第一托盘；包括沿x轴方向排列的多个拾取器，将安置于所述第一托盘上的所述多个电子配件传送到第二托盘的传送手；通过拍摄所述多个拾取器获取图像信息的拍摄单元；以及基于所述图像信息，当所述传送手放置于所述第一托盘上的第一托盘位置时,获取作为所述多个拾取器各个的x轴坐标的第一拾取器x坐标的控制部，所述控制部，当所述传送手放置于所述第一托盘位置时，算出作为所述多个拾取器各个的预设的x轴坐标的第一基准x坐标和对应于所述第一基准x坐标的作为所述第一拾取器x坐标的差异的所述多个拾取器各个的第一x坐标偏差值；当所述多个第一x坐标偏差值中具有最大值的第一最大x偏差值小于预设的x临界值时,所述传送手向x轴的一侧移动所述多个第一x坐标偏差值中具有最小值的第一最小x偏差值和作为所述第一最大x偏差值的平均值的第一平均x偏差值之后，控制所述传送手从所述第一托盘中把持所述多个电子配件的电子配件测试处理器。