[发明专利]电子配件测试处理器在审

专利信息
申请号: 202210188188.1 申请日: 2022-02-28
公开(公告)号: CN115078896A 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 罗闰成;罗明珍;金东现 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R31/26;B07C5/344
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 黄威
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子 配件 测试 处理器
【权利要求书】:

1.一种电子配件测试处理器,其特征在于,包括:

第一托盘,用以安置多个电子配件;

传送手,包括沿x轴方向排列的多个拾取器,将安置于所述第一托盘上的所述多个电子配件传送到第二托盘;

拍摄单元,通过拍摄所述多个拾取器获取图像信息;以及

控制部,基于所述图像信息,当所述传送手放置于所述第一托盘上的第一托盘位置时,获取作为所述多个拾取器各个的x轴坐标的第一拾取器x坐标;

所述控制部,

当所述传送手放置于所述第一托盘位置时,算出作为所述多个拾取器各个的预设的x轴坐标的第一基准x坐标和对应于所述第一基准x坐标的作为所述第一拾取器x坐标的差异的所述多个拾取器各个的第一x坐标偏差值;

当所述多个第一x坐标偏差值中具有最大值的第一最大x偏差值小于预设的x临界值时,所述传送手向x轴的一侧移动所述多个第一x坐标偏差值中具有最小值的第一最小x偏差值和作为所述第一最大x偏差值的平均值的第一平均x偏差值之后,控制所述传送手从所述第一托盘中把持所述多个电子配件。

2.如权利要求1所述的电子配件测试处理器,其特征在于,

所述多个拾取器中至少一部分沿y轴方向排列;

所述控制部,

基于所述图像信息,当所述传送手放置于所述第一托盘位置时,获取作为所述多个拾取器各个的y轴坐标的第一拾取器y坐标;

当所述传送手放置于所述第一托盘位置时,算出作为所述多个拾取器各个的预设的y轴坐标的第一基准y坐标和对应于所述第一基准y坐标的作为所述第一拾取器y坐标的差异的所述多个拾取器各个的第一y坐标偏差值;

当所述多个第一y坐标偏差值中具有最大值的第一最大y偏差值小于或者等于预设的y临界值时,所述传送手向y轴方向的一侧移动所述多个第一y坐标偏差值中具有最小值的第一最小y偏差值和作为所述第一最大y偏差值的平均值的第一平均y偏差值之后,控制所述传送手从所述第二托盘中把持所述多个电子配件。

3.如权利要求1所述的电子配件测试处理器,其特征在于,

所述控制部,

当所述传送手放置于所述第二托盘上的第二托盘位置时,获取作为所述多个拾取器各个的x轴坐标的第二拾取器x坐标;

当所述传送手放置于所述第二托盘位置时,算出作为所述多个拾取器各个的预设的x轴坐标的第二基准x坐标和对应于所述第二基准x坐标的作为所述第二拾取器x坐标的差异的所述多个拾取器各个的第二x坐标偏差值;

算出作为所述多个拾取器各个的所述第一x坐标偏差值和所述第二x坐标偏差值的差异的x校正值,并且算出作为所述多个x校正值的最大值和最小值的平均值的x校正值;

所述传送手向x轴方向的一侧移动所述第一平均x偏差值,并且向x轴方向的另一侧移动所述平均x校正值之后,控制所述传送手使得所述多个电子配件安置于所述第二托盘上。

4.如权利要求1所述的电子配件测试处理器,其特征在于,

所述控制部,

当所述多个第一x坐标偏差值中的一个或者多个超过所述x临界值时,控制所述传送手使得所述多个拾取器放置于从所述第一拾取器x坐标间隔其他平均x偏差值的位置上;

控制所述传送手使得超过所述x临界值的一个或者多个拾取器放置于所述多个电子配件中的一个或者多个电子配件上;

所述其他平均x偏差值是超过所述x临界值的一个或者多个拾取器以外的其余拾取器的最大x偏差值和最小x偏差值的平均值。

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