[发明专利]信号线电迁移检查方法及装置、电子设备和存储介质

说明书

一种信号线电迁移检查方法、信号线电迁移检查装置、电子设备和非瞬时性计算机可读存储介质。该信号线电迁移检查方法应用于集成电路设计，集成电路设计包括顶层设计和多个子设计，信号线电迁移检查方法包括：生成与多个子设计一一对应的多个边界模型文件，其中，每个边界模型文件包括边界模型文件对应的子设计中的多个交互元件的描述信息，多个交互元件用于实现子设计与顶层设计和/或多个子设计中除了边界模型文件对应的子设计之外的子设计进行交互；获取与顶层设计对应的描述文件；基于多个边界模型文件和顶层设计对应的描述文件，对顶层设计进行信号线电迁移检查。

技术领域

本公开的实施例涉及一种信号线电迁移检查方法、信号线电迁移检查装置、电子设备和非瞬时性计算机可读存储介质。

背景技术

随着制备工艺不断进步，工艺精度上升，工艺线宽不断变小，芯片设计的集成度不断升高，单位线宽上的电流密度逐渐上升，可靠性的需求对于芯片的信号线电迁移检查的规模及迭代时间都提出了严峻的挑战。

发明内容

本公开至少一个实施例提供一种信号线电迁移检查方法，应用于集成电路设计，其中，所述集成电路设计包括顶层设计和多个子设计，所述信号线电迁移检查方法包括：生成与所述多个子设计一一对应的多个边界模型文件，其中，每个边界模型文件包括所述边界模型文件对应的子设计中的多个交互元件的描述信息，所述多个交互元件用于实现所述子设计与所述顶层设计和/或所述多个子设计中除了所述边界模型文件对应的子设计之外的子设计进行交互；获取与所述顶层设计对应的描述文件；基于所述多个边界模型文件和所述顶层设计对应的描述文件，对所述顶层设计进行信号线电迁移检查。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，针对所述多个子设计中的第i个子设计，所述第i个子设计包括多个逻辑单元、多条边界信号连接网和多个引脚，i为正整数，所述多个逻辑单元包括至少一个边界驱动单元和至少一个边界接收单元，所述多个引脚包括至少一个边界输入引脚和至少一个边界输出引脚，每个边界信号连接网用于连接一个边界输入引脚和一个边界接收单元或连接一个边界输出引脚和一个边界驱动单元，所述第i个子设计中的多个交互元件包括所述至少一个边界驱动单元、所述至少一个边界接收单元、所述至少一个边界输入引脚、所述至少一个边界输出引脚和所述多条边界信号连接网。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，所述第i个子设计还包括至少一个馈通连接网，所述多个引脚还包括至少一个馈通输入引脚和至少一个馈通输出引脚，每个馈通连接网表示从所述第i个子设计的一个馈通输入引脚直接连接到一个馈通输出引脚的连接网，所述第i个子设计中的多个交互元件还包括所述至少一个馈通连接网、所述至少一个馈通输入引脚和所述至少一个馈通输出引脚。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，生成与所述多个子设计一一对应的多个边界模型文件，包括：获取与所述多个子设计一一对应的多个描述文件；基于与所述多个子设计一一对应的多个描述文件，生成所述多个边界模型文件。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，基于与所述多个子设计一一对应的多个描述文件，生成所述多个边界模型文件，包括：针对每个子设计：从所述每个子设计对应的描述文件中删除所述每个子设计中除了所述每个子设计中的多个交互元件之外的元件对应的描述信息，以得到所述每个子设计对应的边界模型文件。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，生成与所述多个子设计一一对应的多个边界模型文件，包括：针对每个子设计：获取所述每个子设计中的多个交互元件的描述信息，以得到所述每个子设计对应的边界模型文件。

例如，本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法还包括：获取所述多个子设计分别对应的多个描述文件；基于每个子设计对应的描述文件，对所述每个子设计进行信号线电迁移检查。

例如，在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中，所述顶层设计对应的描述文件被配置为能够调用所述多个子设计分别对应的多个描述文件。