[发明专利]随机量子测量的模拟方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种随机量子测量的模拟方法，包括：

确定当前随机量子测量所指示待测量量子比特的目标测量操作，所述待测量量子比特为目标量子电路中的量子比特；所述目标量子电路至少包含有量子门操作部分和测量操作部分，所述量子门操作部分至少表征有对所述目标量子电路进行模拟演化所需的量子门；所述测量操作部分至少表征有在模拟演化后对所述目标量子电路中量子比特进行量子测量所需的测量操作；

在所述目标量子电路所等价的总测量模式的输出节点中，确定与所述待测量量子比特所对应的目标节点；其中，所述总测量模式为与所述目标量子电路所等价的满足单向量子计算机1WQC模型要求的测量模式；

在所指示的所述待测量量子比特的目标测量操作，与所述总测量模式中所述目标节点所对应的当前测量指令指示的预设测量操作不相同的情况下，对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令进行调整；

模拟运行调整后的总测量模式，得到当前随机量子测量所需的测量结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述确定当前随机量子测量所指示待测量量子比特的目标测量操作，包括：

基于预设概率分布，随机生成泡利测量操作；

基于随机生成的泡利测量操作，得到当前随机量子测量所指示目标量子电路中待测量量子比特的目标测量操作，所述目标测量操作为以下泡利测量操作之一：泡利X测量操作，泡利Y测量操作，泡利Z测量操作。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令进行调整，包括：

基于所述目标测量操作所等价的目标测量指令，与所述总测量模式中所述目标节点所对应的当前测量指令之间的差异信息，对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令进行调整。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其中，所述对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令进行调整，包括：

对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中以下信息之一进行调整：

测量平面，测量依赖关系，测量角度。

5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其中，所述对所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令进行调整，包括：

基于以下至少之一进行调整：

在所述目标测量操作为泡利X测量操作，且所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令指示泡利Z测量操作的情况下，将所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中的测量平面调整为XY平面，以及将所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中与所述目标节点相关联的两个节点的相关信息进行交换；

在所述目标测量操作为泡利Y测量操作，且所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令指示泡利Z测量操作的情况下，将所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中的测量平面调整为XY平面，以及将所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中的测量角度更新为π/2，以及将所述总测量模式中所述目标节点对应的当前测量指令中与所述目标节点相关联的两类节点的相关信息进行交换。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，还包括：

将所述目标量子电路中量子门操作部分转换为满足1WQC模型要求的第一测量模式；

将所述目标量子电路中测量操作部分转换为满足1WQC模型要求的第二测量模式，所述第二测量模式中输出节点所对应的测量指令指示为预设测量操作；

基于所述第一测量模式和所述第二测量模式，得到所述目标量子电路所等价的总测量模式。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述将所述目标量子电路中量子门操作部分转换为满足1WQC模型要求的第一测量模式，包括：

在所述目标量子门电路中量子门存在至少两个的情况下，基于所述目标量子门电路中量子门的量子门参数，生成与所述目标量子门电路中量子门所等价的满足1WQC模型要求的子测量模式；

基于所述目标量子门电路中各量子门所等价的子测量模式，得到与所述目标量子电路的量子门操作部分所等价的第一测量模式。