[发明专利]显示面板检测线路、显示面板及显示器件

说明书

本申请提供一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件，涉及了显示技术领域，解决了目前的显示面板检测线路在测试完成以及在刀轮切割后，裸露在外的端子侧金属容易腐蚀膨胀，导致相邻信号线短路的问题，本申请包括短路棒和与短路棒耦接的测试线，短路棒和测试线共同用于传输显示测试信号至显示面板内，测试线包括：切割段，切割段采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层；固定段，固定段耦接于切割段的两端。本申请通过将测试线的切割段采用由不易腐蚀氧化的金属氧化物导体构成的第一导体层，从而在切割后，裸露在外的金属不易发生氧化膨胀，进而改善显示面板检测线路发生金属腐蚀膨胀短路导致显示面板出现亮暗线的问题。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件。

背景技术

目前显示屏产业非常发达，作为人机交互第一窗口，显示屏在生活中无处不在。显示面板在Array阵列制程中，经常使用铜(Cuprum,Cu)作为金属走线。在液晶盒测试(CellTest)阶段，因为有显示面板检测线路/短路棒(shorting-bar)连接到液晶盒测试端子(Cell est Pad，CT Pad)进行Cell Test点屏测试，在后续刀轮切割后，端子侧金属的侧面裸露在外。在信赖性(RA)测试，以及在消费者使用过程中，会发生Cu金属腐蚀膨胀，导致相邻两根信号线短路，造成显示面板内显示亮暗线不良。

发明内容

本申请提供一种能够改善显示面板检测线路发生金属腐蚀膨胀短路导致显示面板出现亮暗线的一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件。

一方面，本申请提供一种显示面板检测线路，包括短路棒和与所述短路棒耦接的测试线，所述短路棒和所述测试线共同用于传输显示测试信号至显示面板内，所述测试线包括：

切割段，所述切割段采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层，在完成所述显示面板的测试程序后通过切割方式切除所述切割段；

固定段，所述固定段耦接于所述切割段的两端，所述固定段和所述切割段共同用于传输所述显示测试信号至所述显示面板内。

在本申请一种可能的实现方式中，所述检测线路包括多个测试线，多个所述测试线的所述切割段均采用的是由金属氧化物导体构成的所述第一导体层。

在本申请一种可能的实现方式中，所述测试线包括依次间隔设置的偶数列测试线和奇数列测试线，所述偶数列测试线的切割段或者所述奇数列测试线的切割段采用的是金属氧化物导体构成的所述第一导体层。

在本申请一种可能的实现方式中，所述测试线包括电源信号线和多个显示信号线，多个所述显示信号线的切割段均采用的是金属氧化物导体构成的所述第一导体层。

在本申请一种可能的实现方式中，所述电源信号线的切割段采用的是由金属导体构成的第二导体层。

在本申请一种可能的实现方式中，所述固定段采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层或者由金属导体构成的第三导体层。

在本申请一种可能的实现方式中，所述切割段沿切割方向的第一导体宽度小于所述固定段沿切割方向的第二导体宽度。

在本申请一种可能的实现方式中，所述金属氧化物导体包括氧化铟镓锌、氧化铟锡和钼钛合金。

在本申请一种可能的实现方式中，

另一方面，本申请提供一种显示面板，所述显示面板包括如所述的显示面板检测线路。

另一方面，本申请还提供一种显示器件，所述显示器件包括如所述的显示面板。