[发明专利]一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供了一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及测试技术领域，其技术方案要点是：包括：获取成像系统拍摄的正弦波星图中各个圆周对应的周长、周期数、像高以及由各个像素点对应生成的像素值曲线；根据所述周长、所述周期数以及所述像高得到各个所述圆周对应的分辨率；根据所述像素值曲线得到所述像素值曲线中每个周期内最大像素值以及每个所述周期内最小像素值；根据所述分辨率、每个所述周期内的最大像素值以及每个所述周期内的最小像素值得到SFR曲线，从而判断所述成像系统的性能。本申请提供的一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质具有测试精度高的优点。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在相机的成像系统性能测试中，正弦波星图测试标板是其中一种测试方式，正弦波星图测试能够更加细致和全面地反应成像系统或者相机的分辨率表现，但是，正弦波星图测试不如楔形线测试便捷，正弦波星图测试难以通过肉眼对分辨率进行量化，需要借助计算机软件通过特定的算法得出SFR曲线。

目前现有的计算机测试软件基本都是使用拟合法来计算SFR曲线，然而，使用拟合法在测试相机分辨率时存在一定的局限性，通过相机成像系统拍摄的正弦波星图某圆周上像素点的像素值分布并不一定呈正弦分布。通过拟合法拟合得到的曲线的波峰值和波谷值并不能准确反应像素值分布的峰值调制度调制度，进而影响测试结果。

针对上述问题，亟需申请人提出了一种新的测试方案。

发明内容

本申请的目的在于提供一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，具有测试精度高的优点。

第一方面，本申请提供了一种成像系统性能测试方法，技术方案如下：

包括：

获取成像系统拍摄的正弦波星图中各个圆周对应的周长、周期数、像高以及由各个像素点对应生成的像素值曲线；

根据所述周长、所述周期数以及所述像高得到各个所述圆周对应的分辨率；

根据所述像素值曲线得到所述像素值曲线中每个周期内最大像素值以及每个所述周期内最小像素值；

根据所述分辨率、每个所述周期内的最大像素值以及每个所述周期内的最小像素值得到SFR曲线，从而判断所述成像系统的性能。

利用成像系统拍摄正弦波星图，然后获取正弦波星图中各个圆周对应的周长、周期数以及像高计算得到各个圆周对应的分辨率，以分辨率作为横坐标，然后通过圆周上各个像素点生成像素值曲线，像素值曲线反映了各像素点的真实分布，然后通过每个周期内的最大像素值以及每个周期内的最小像素值进行调制度的计算，然后以分辨率作为横坐标，调制度作为纵坐标得到SFR曲线，通过SFR曲线可以反映出成像系统的性能，与传统的正弦波星图测试方法相比，本申请不对像素点进行拟合，而是采用各个像素点的真实分布，然后通过周期内的最大像素值和最小像素值进行调制度的计算，比起传统的拟合法，减少了拟合的步骤，不仅提升了测试效率，而且可以避免拟合不准确导致测试结果不准确的问题，因此具有测试精度高的有益效果。

进一步地，在本申请中，所述获取成像系统拍摄的正弦波星图中各个圆周对应的周长、周期数、像高以及由各个像素点对应生成的像素值曲线的步骤包括：

以所述成像系统拍摄的正弦波星图的中心为圆心，所述成像系统拍摄的正弦波星图的半径为R0，将半径R0分成n等分，得到n个对应的所述圆周；

获取n个对应的所述圆周对应的所述周长、所述周期数、所述像高以及所述圆周上像素点的像素值；

根据n个对应的所述圆周上像素点的像素值得到所述像素值曲线。

进一步地，在本申请中，获取所述圆周上像素点的像素值的步骤包括：