[发明专利]一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种成像系统性能测试方法，其特征在于，包括：

获取成像系统拍摄的正弦波星图中各个圆周对应的周长、周期数和像高以及由对应各个圆周上的像素点直接生成的像素值曲线，具体包括：以所述成像系统拍摄的正弦波星图的中心为圆心，所述成像系统拍摄的正弦波星图的半径为R0，将半径R0分成n等分，得到n个对应的所述圆周，获取n个所述圆周对应的所述周长、所述周期数、所述像高以及所述圆周上像素点的像素值，根据n个所述圆周上像素点的像素值得到n个所述圆周对应的像素值曲线；

获取n个所述圆周上像素点的像素值得到n个所述圆周对应的像素值曲线的步骤包括：获取所述成像系统拍摄的正弦波星图的中心坐标以及所述圆周上像素点对应的极坐标角度；根据所述成像系统拍摄的正弦波星图的中心坐标以及所述圆周上像素点对应的极坐标角度得到所述圆周上像素点的坐标；根据所述圆周上像素点的坐标读取对应所述圆周上像素点的像素值，并分别连接所述像素值形成n条对应的所述像素值曲线；

根据所述周长、所述周期数以及所述像高得到各个所述圆周对应的分辨率；

根据所述像素值曲线得到所述像素值曲线中每个周期内最大像素值以及每个所述周期内最小像素值；

根据所述分辨率、每个所述周期内的最大像素值以及每个所述周期内的最小像素值得到SFR曲线，从而判断所述成像系统的性能，具体为：

获取每个所述周期内的所述最大像素值以及每个所述周期内的所述最小像素值；

根据所述每个所述周期内的所述最大像素值得到所有周期的平均最大像素值；

根据所述每个所述周期内的所述最小像素值得到所有周期的平均最小像素值；

根据所述分辨率、所述所有周期的平均最大像素值以及所述所有周期的平均最小像素值计算得到所述SFR曲线，从而判断所述成像系统的性能。

2.根据权利要求1所述的一种成像系统性能测试方法，其特征在于，还包括：

将所述成像系统拍摄的正弦波星图分成多个区域；

根据每个所述区域对应的所述分辨率、每个所述区域对应的每个所述周期内的最大像素值以及每个所述区域对应的每个所述周期内的最小像素值得到每个所述区域的SFR曲线，从而判断所述成像系统在每个所述区域的清晰度。

3.根据权利要求2所述的一种成像系统性能测试方法，其特征在于，所述根据每个所述区域对应的所述分辨率、每个所述区域对应的每个所述周期内的最大像素值以及每个所述区域对应的每个所述周期内的最小像素值得到每个所述区域的SFR曲线，从而判断所述成像系统在每个所述区域的清晰度的步骤包括：

获取每个所述区域内对应的每个所述周期内的所述最大像素值以及每个所述区域内对应的每个所述周期内的所述最小像素值；

根据每个所述区域内对应的每个所述周期内的所述最大像素值得到所述区域内所有周期的平均最大像素值；

根据每个所述区域内对应的每个所述周期内的所述最小像素值得到所述区域内所有周期的平均最小像素值；

根据每个所述区域对应的所述分辨率、每个所述区域内对应的所述平均最大像素值以及每个所述区域内对应的所述平均最小像素值计算得到每个所述区域的SFR曲线，从而判断所述成像系统在每个所述区域的清晰度。

4.根据权利要求1所述的一种成像系统性能测试方法，其特征在于，还包括：

对所述成像系统拍摄的正弦波星图进行灰度化处理。